版權(quán)說(shuō)明:本文檔由用戶提供并上傳,收益歸屬內(nèi)容提供方,若內(nèi)容存在侵權(quán),請(qǐng)進(jìn)行舉報(bào)或認(rèn)領(lǐng)
文檔簡(jiǎn)介
1、隨著汽車電子,移動(dòng)電子以及大功率集成電子設(shè)備朝向高密度化、微型化、多功能化等方面的發(fā)展。板級(jí)封裝電子元器件內(nèi)互連微焊點(diǎn)所受服役環(huán)境越來(lái)越苛刻。在實(shí)際服役過(guò)程中互連微焊點(diǎn)往往經(jīng)歷著熱、電、力載荷的共同作用,多種載荷的耦合作用不僅影響了PCB板的響應(yīng)特征而且對(duì)焊點(diǎn)的失效機(jī)理有著顯著的影響。因此,本文以Sn-Ag-Cu系無(wú)鉛焊點(diǎn)為載體,研究了在熱-力耦合(溫度-振動(dòng)耦合)、熱-力-電耦合作用下,PCB板的響應(yīng)特征和微焊點(diǎn)的失效機(jī)理。
2、 測(cè)量了溫度、振動(dòng)、電耦合下板級(jí)應(yīng)變、頻率、加速度等響應(yīng)數(shù)據(jù),研究了溫度-振動(dòng)耦合、溫度-振動(dòng)-電耦合下PCB板的頻率響應(yīng)和形變特征的影響規(guī)律。結(jié)果表明,溫度-振動(dòng)耦合下,溫度由25℃升高到100℃,PCB板一階固有頻率下降,同時(shí)一階固有頻率下的應(yīng)變峰值沒(méi)有發(fā)生變化;溫度-振動(dòng)-電耦合下,電流的施加,改變了PCB板溫度分布,降低了PCB板的一階固有頻率的同時(shí)還降低了PCB板應(yīng)變峰值,由0.001下降到0.00078。揭示出多場(chǎng)耦合作用下
3、的板級(jí)載荷的復(fù)雜性。
應(yīng)用統(tǒng)計(jì)學(xué)分析的方法,研究了溫度-振動(dòng)耦合下微焊點(diǎn)的壽命、失效模式和機(jī)制。結(jié)果表明,在一定溫度范圍和激振水平下(功率譜密度PSD為1.55(m/s2)2/Hz),溫度升高(25℃,25℃,100℃),改善了焊點(diǎn)塑性性能,提高了振動(dòng)載荷下焊點(diǎn)的壽命;焊點(diǎn)斷裂位置由界面金屬間化合物(IMC)與銅焊盤之間轉(zhuǎn)變?yōu)轶w釬料處內(nèi),由脆性斷裂轉(zhuǎn)變?yōu)轫g性斷裂特征;設(shè)計(jì)了不同激振水平下溫度-振動(dòng)耦合下焊點(diǎn)失效試驗(yàn),研究應(yīng)力水
4、平對(duì)溫度-振動(dòng)耦合下焊點(diǎn)壽命和失效模式的影響規(guī)律。隨著PSD值的逐漸升高(2.34(m/s2)2/Hz,3.35(m/s2)2/Hz,4.55(m/s2)2/Hz),溫度對(duì)微焊點(diǎn)壽命和失效模式影響的趨勢(shì)逐漸不敏感。PSD為2.34(m/s2)2/Hz時(shí),溫度升高,焊點(diǎn)壽命下降,PSD分別為3.35(m/s2)2/Hz和4.55(m/s2)2/Hz時(shí),不同溫度下的焊點(diǎn)壽命幾乎無(wú)明顯變化。焊點(diǎn)主要失效模式均為體釬料裂紋和混合裂紋,溫度升高對(duì)
5、焊點(diǎn)失效模式的影響不顯著。過(guò)應(yīng)力作用是導(dǎo)致這一現(xiàn)象的主要原因,振動(dòng)載荷強(qiáng)度主導(dǎo)了焊點(diǎn)失效。
對(duì)比分析了冷熱沖擊-振動(dòng)順序耦合與溫度-振動(dòng)實(shí)時(shí)耦合下焊點(diǎn)的失效特征。結(jié)果表明,順序耦合作用下焊點(diǎn)體釬料組織粗化,致使體釬料處力學(xué)性能下降,導(dǎo)致裂紋產(chǎn)生在體釬料內(nèi),抗振動(dòng)性能下降,冷熱沖擊載荷的施加加速了焊點(diǎn)的失效。而溫度-振動(dòng)實(shí)時(shí)耦合下,溫度提高使得焊點(diǎn)體釬料塑性性能提升,降低了焊點(diǎn)界面應(yīng)力水平,導(dǎo)致裂紋產(chǎn)生在體釬料處,兩者的失效機(jī)制
6、顯著不同。
揭示了三場(chǎng)耦合各因素對(duì)焊點(diǎn)失效特征的影響規(guī)律。結(jié)果表明,溫度-電-振動(dòng)耦合下,電載荷的施加,降低了PCB板的應(yīng)變幅值,致使焊點(diǎn)的振動(dòng)載荷強(qiáng)度降低,提高了互連微焊點(diǎn)的壽命;溫度-電-振動(dòng)耦合下焊點(diǎn)裂紋為體釬料裂紋和混合裂紋,傾向于韌性斷裂。進(jìn)一步提高三場(chǎng)耦合中電場(chǎng)載荷強(qiáng)度,電流密度由0.7×104 A/cm2提高到0.85×104A/cm2,焊點(diǎn)加載1小時(shí)仍未失效,分析表明焊點(diǎn)內(nèi)部發(fā)生明顯的電遷移現(xiàn)象,PCB振動(dòng)幅值
溫馨提示
- 1. 本站所有資源如無(wú)特殊說(shuō)明,都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請(qǐng)下載最新的WinRAR軟件解壓。
- 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等,如果需要附件,請(qǐng)聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
- 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙,網(wǎng)頁(yè)內(nèi)容里面會(huì)有圖紙預(yù)覽,若沒(méi)有圖紙預(yù)覽就沒(méi)有圖紙。
- 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
- 5. 眾賞文庫(kù)僅提供信息存儲(chǔ)空間,僅對(duì)用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護(hù)處理,對(duì)用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯,并不能對(duì)任何下載內(nèi)容負(fù)責(zé)。
- 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容,請(qǐng)與我們聯(lián)系,我們立即糾正。
- 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時(shí)也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對(duì)自己和他人造成任何形式的傷害或損失。
最新文檔
- Sn-Ag-Cu-Sn-Bi混裝焊點(diǎn)熱循環(huán)可靠性研究.pdf
- sn2.5ag0.7cu0.1rexnicu釬焊及焊點(diǎn)可靠性研究
- 稀土Ce對(duì)Sn-Ag-Cu和Sn-Cu-Ni釬料性能及焊點(diǎn)可靠性影響的研究.pdf
- Cu3Sn誘發(fā)薄膜影響Cu-Sn反應(yīng)機(jī)理及應(yīng)用.pdf
- 電沉積Sn-Ag-Cu合金工藝及沉積機(jī)理研究.pdf
- Cu-Sn-xZn-Cu焊點(diǎn)釬焊反應(yīng)熱遷移研究.pdf
- 多場(chǎng)耦合條件下SnAgCu-Cu無(wú)鉛焊點(diǎn)界面化合物生長(zhǎng)行為研究.pdf
- 介觀尺度下Sn-Cu焊點(diǎn)的界面擴(kuò)散及尺寸效應(yīng).pdf
- Sn-1Zn-XAg-Cu焊點(diǎn)界面及性能研究.pdf
- 微互連焊點(diǎn)電遷移失效機(jī)理研究.pdf
- 納米顆粒對(duì)Sn58Bi-Cu微焊點(diǎn)的改性及機(jī)理研究.pdf
- Cu互連失效性的分析與研究.pdf
- 低銀Sn-Ag-Cu無(wú)鉛釬料焊點(diǎn)熱可靠性研究.pdf
- 微互連焊點(diǎn)Cu-Sn金屬間化合物晶粒取向及各向異性研究.pdf
- 高功率器件無(wú)鉛sn3.0ag0.5cu焊點(diǎn)液固電遷移行為與機(jī)理研究
- sn3.0ag0.5cu無(wú)鉛焊點(diǎn)在大電流密度下的蠕變行為研究
- 電-熱耦合作用下Cu-SnAgCu-Cu微焊點(diǎn)界面擴(kuò)散及電遷移規(guī)律研究.pdf
- 球柵陣列焊點(diǎn)與Cu基板界面在熱-電-振動(dòng)載荷下的失效機(jī)理.pdf
- 微互連高度下Sn-Bi-Ag焊點(diǎn)的界面反應(yīng)及可靠性研究.pdf
- Cu-Sn-Ni體系瞬態(tài)液相軟釬焊工藝及互連機(jī)理研究.pdf
評(píng)論
0/150
提交評(píng)論