一種高性能PCI橋總線接口的驗(yàn)證與測試.pdf

1、隨著集成電路設(shè)計(jì)規(guī)模的不斷增大和設(shè)計(jì)復(fù)雜度的不斷提高，設(shè)計(jì)出的產(chǎn)品的功能呈現(xiàn)多樣化。功能豐富的集成電路產(chǎn)品對用戶來說極其方便，但對集成電路產(chǎn)品的設(shè)計(jì)者和制造者來說，將是巨大的挑戰(zhàn)，單就驗(yàn)證一個環(huán)節(jié)來說，功能越復(fù)雜，驗(yàn)證越是難以操作。目前，驗(yàn)證與測試是整個芯片設(shè)計(jì)流程中最耗時、最復(fù)雜的環(huán)節(jié)，占據(jù)了整個開發(fā)時間的50％～70%，是項(xiàng)目成功的關(guān)鍵。如何對復(fù)雜的芯片進(jìn)行驗(yàn)證和測試，保證芯片設(shè)計(jì)的正確性和可靠性，已經(jīng)成為集成電路發(fā)展過程中的一大難

2、題。
　　問題的解決不但要在技術(shù)上取得突破，還要依賴于對整個功能驗(yàn)證領(lǐng)域內(nèi)的所有資源的有效利用，深入研究驗(yàn)證方法學(xué)，找到正確、合適、高效的方法。本文對基于功能信息的驗(yàn)證方法學(xué)進(jìn)行了重點(diǎn)研究，還討論了若干驗(yàn)證技術(shù)，比較了各種技術(shù)的優(yōu)缺點(diǎn)，選擇了適用于本款芯片的驗(yàn)證方法。
　　對于復(fù)雜的芯片設(shè)計(jì)進(jìn)行功能驗(yàn)證，要選擇正確的方法和合適的技術(shù)，搭建強(qiáng)大的驗(yàn)證平臺，提升驗(yàn)證的自動化程度，提高驗(yàn)證的效率，進(jìn)而減少驗(yàn)證的時間。方法的選擇至關(guān)

3、重要，具體的依據(jù)是待測芯片內(nèi)部的結(jié)構(gòu)和要實(shí)現(xiàn)的功能行為。由于待測芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)較復(fù)雜，功能點(diǎn)較多，所以本文選擇的是仿真驗(yàn)證的方法，便于直觀的觀察驗(yàn)證結(jié)果。
　　本文的研究對象是基于本人參與的具體驗(yàn)證項(xiàng)目，待測設(shè)計(jì)是一款PCI-PCI橋芯片（由于涉密等原因，文中不便出現(xiàn)具體項(xiàng)目代號，全文都用“某 PCI橋芯片”來代替），最高傳輸速率可達(dá)528MB/s，所有接口能在25Mhz到66Mhz下工作，該芯片的功能是實(shí)現(xiàn)兩條PCI總線之間的數(shù)據(jù)

4、傳輸，擴(kuò)展PCI總線，使能掛載更多的設(shè)備。本人的研究工作是芯片一級接口到二級接口方向所有功能項(xiàng)的驗(yàn)證和測試，并分析驗(yàn)證結(jié)果。本文的具體工作概括如下：
　　1.對比分析了幾種常見的驗(yàn)證方法，根據(jù)待測芯片的實(shí)際情況，綜合考慮相關(guān)資源配置，選擇了基于仿真的功能驗(yàn)證方法來完成驗(yàn)證工作。
　　2.制定了詳細(xì)的驗(yàn)證方案，搭建驗(yàn)證平臺，編寫基本任務(wù)，撰寫測試用例，利用專業(yè)工具NC_verilog進(jìn)行仿真，在測試用例中，對每一項(xiàng)的功能驗(yàn)證全