基于虛擬切片無(wú)損測(cè)量裝置系統(tǒng)優(yōu)化研究.pdf

1、提出了一套基于虛擬切片無(wú)損測(cè)量裝置的系統(tǒng)優(yōu)化方案，有效的降低了裝置測(cè)量誤差，提高了裝置測(cè)量的可行性及可靠性，優(yōu)化了三維重構(gòu)點(diǎn)云數(shù)據(jù)的質(zhì)量。該測(cè)量方法具有測(cè)量精度高、成本低、數(shù)據(jù)測(cè)量與處理快、可測(cè)量物體內(nèi)部輪廓等特點(diǎn)。論文研究了裝置的系統(tǒng)優(yōu)化方案,旨在提高裝置的測(cè)量精度，主要研究過(guò)程及研究結(jié)果如下：
　　論文以該測(cè)量裝置系統(tǒng)優(yōu)化方案的研究為主線，從裝置軟硬件子系統(tǒng)優(yōu)化、裝置精度影響因素優(yōu)化、裝置綜合誤差補(bǔ)償三個(gè)方面，運(yùn)用誤差擬合、正

2、交實(shí)驗(yàn)、遺傳算法、神經(jīng)網(wǎng)絡(luò)算法、有限元分析等技術(shù)手段進(jìn)行研究。第一，對(duì)裝置進(jìn)行深入的系統(tǒng)誤差分析。第二，根據(jù)誤差變化規(guī)律，制定裝置各軟硬件子系統(tǒng)優(yōu)化方法，優(yōu)化成功率達(dá)到81%以上；制定裝置各精度影響因素優(yōu)化方法，片層質(zhì)量誤差優(yōu)化至-9.05%。第三，制定裝置綜合誤差方法，片層質(zhì)量誤差優(yōu)化至-8.27%。第四，結(jié)合三方面的優(yōu)化方法，制定并驗(yàn)證裝置系統(tǒng)優(yōu)化方案，優(yōu)化結(jié)果為：片層質(zhì)量誤差從-21.26%和-25.47%，優(yōu)化至-6.59%和-