金屬磁記憶檢測(cè)儀器的研制與試驗(yàn)研究.pdf

1、金屬磁記憶檢測(cè)技術(shù)是一種近年來興起的無損檢測(cè)技術(shù)，相比與其它常規(guī)的電磁無損檢測(cè)技術(shù)，既不需要激勵(lì)源、耦合劑，也不需要對(duì)檢測(cè)工件的表面進(jìn)行任何處理，是一種安全環(huán)保的檢測(cè)技術(shù)，而且自誕生之日起，便憑借對(duì)鐵磁性構(gòu)件可實(shí)行早期預(yù)診斷的優(yōu)勢(shì)被眾多研究和工程技術(shù)人員所關(guān)注，并被大量應(yīng)用于鐵磁性設(shè)備的實(shí)際檢測(cè)當(dāng)中。但是作為一種“年幼”的無損檢測(cè)技術(shù)，發(fā)展不成熟的短板也是眾多研究者所不可回避的，因此在磁記憶檢測(cè)技術(shù)的實(shí)際應(yīng)用過程中常常會(huì)發(fā)生漏檢測(cè)和誤檢

2、測(cè)事件。究其根本原因就在于當(dāng)前的無損檢測(cè)技術(shù)在漏磁信號(hào)的信息提取層面上的研究尚不完善，即不能充分利用所采集信號(hào)中的全部信息來提高檢測(cè)結(jié)果的可靠性及可信度。本文便是以信號(hào)分析作為突破口，以求探尋更多可以被實(shí)際檢測(cè)所能應(yīng)用的磁記憶檢測(cè)獲取的漏磁信號(hào)的有關(guān)信息，為進(jìn)一步完善金屬磁記憶檢測(cè)技術(shù)提供技術(shù)支撐。
　　論文首先分析了當(dāng)前磁記憶檢測(cè)方法和磁記憶檢測(cè)技術(shù)的發(fā)展不足，明確了將二維磁記憶檢測(cè)技術(shù)作為本課題的研究基礎(chǔ)，同時(shí)提取構(gòu)件表面漏磁

3、信號(hào)的切向分量H(x)與法向分量H(y)兩個(gè)信號(hào)指標(biāo)作為雙重判據(jù)一并實(shí)現(xiàn)應(yīng)力集中部位的準(zhǔn)確判斷。而后又進(jìn)一步利用梯度計(jì)算法來分析和實(shí)現(xiàn)對(duì)受力構(gòu)件健康階段的良好評(píng)估。
　　其次利用Python、C語言以及LabView三大語言混合編程實(shí)現(xiàn)二維磁記憶檢測(cè)系統(tǒng)的編寫，并分別使用RaspberryPi與PC作為數(shù)據(jù)處理平臺(tái)制作了儀器核心系統(tǒng)。同時(shí)針對(duì)于磁記憶檢測(cè)技術(shù)的測(cè)量環(huán)境與測(cè)量需求研制了高速、可靠的二維磁記憶探頭，并實(shí)現(xiàn)了數(shù)字濾波器和