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文檔簡介
1、當代電子技術日新月異,隨著電子技術的發(fā)展,無源表面貼裝元件得到了越來越廣泛的應用,尤其在高頻電路的設計中,表面貼裝元件已經(jīng)成為了必不可少的電路元件。因此,研究設計高頻環(huán)境下表面貼裝元器件的測量方法,并得到準確的元器件高頻特性參數(shù),對表面貼裝元件在高頻電路中的設計和應用非常重要。然而,現(xiàn)階段對于無源表面貼裝元器件的測量方法還非常有限,在射頻頻段的測量技術更為缺乏。通過對相關理論技術的深入研究,本文提出了一種在45MHz~12GHz頻率范圍
2、內(nèi)的貼片元件測試方法,并且通過實際測量結果驗證了測量系統(tǒng)的可靠性。
本文的主要工作及貢獻有
一、研究了測量無源貼片元件的主要方法,通過對比分析,選擇了微波網(wǎng)絡分析的方法,利用矢量網(wǎng)絡分析儀和本文設計的測量夾具直接測量貼片元件的 S參數(shù);
二、對矢量網(wǎng)絡分析儀的誤差模型以及校準方法進行了研究和分析,確定了采用TRM以及TRL相結合的校準方法,擴展了測量的頻率范圍;
三、擬定了測量夾具的設計要求,并利
3、用相關軟件設計了測量夾具和校準電路,在實際操作中總結了經(jīng)驗并對測量夾具做了很多優(yōu)化和改進,最終制作出了符合測量要求且適用范圍較廣的測量夾具;
四、分析了電容、電阻、電感元件的高頻等效電路模型,建立了實驗測量數(shù)據(jù)的處理程序;
五、對實際貼片元件進行了測量,對得到的結果進行了數(shù)據(jù)處理,得到了元件的特性參數(shù)。
通過理論分析以及實際測量結果的驗證,表明了本文對微波測量理論的分析是正確的;本文提出的TRM和TRL相結
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