NoC中測試調(diào)度與NI可靠性研究.pdf

1、NoC因其可靠性高和可擴展性好等優(yōu)點，已經(jīng)被研究的越來越多。集成電路的測試伴隨著芯片的設(shè)計、驗證、生產(chǎn)和后期維護等整個生命周期。在NoC中，IP核通過路由器來相互通信。對于IP核的測試，一種通用的做法是復(fù)用已有的NoC通信架構(gòu)來傳輸測試數(shù)據(jù)。但是在復(fù)用NoC架構(gòu)作為測試訪問機制對內(nèi)嵌核測試時，如果有多個I/O接口并行測試時就容易發(fā)生資源的沖突。同時，在很多測試方法中，測試路徑的建立以及測試響應(yīng)的收集等在網(wǎng)絡(luò)接口(NI，network i

2、nterface)中實現(xiàn)。但作為NoC的重要組成部分，關(guān)于NI的可靠性研究卻往往被忽略。因此，本課題針對以上問題，分別從并行測試調(diào)度和NI可靠性兩方面展開研究。論文主要工作如下:
　　(1)為了解決多區(qū)域并行測試的資源沖突問題，提出一種無鏈路沖突的測試調(diào)度方法。首先使用分區(qū)算法將網(wǎng)絡(luò)劃分多個區(qū)域，然后使用鏈路分配算法對節(jié)點建立路徑樹來查找可連通路徑，最后全局考慮各個區(qū)域的連通路徑來分配鏈路使所有區(qū)域都連通，從而避免資源沖突、減少測

3、試時間、保證測試可靠性。實驗結(jié)果表明，相對于基準對象，該方法可減少測試時間14.13％～52.62％，相比于已有算法，測試時間最多減少了16.42％，是一種較優(yōu)的無沖突測試調(diào)度方法。
　　(2)針對NI的可靠性以及可能的數(shù)據(jù)包亂序問題。本文提出一種支持重排序的高可靠NI設(shè)計。首先通過在NI發(fā)送端和接收端都使用雙虛通道設(shè)計，達到與路由器高效互連的目的，同時增加了NI可靠性。其次，設(shè)計一種新的重排序方法，對重排序buffer使用一種鏈