基于波形識別的LED驅(qū)動電源磁性元件電參數(shù)測量關(guān)鍵技術(shù)研究.pdf

1、LED照明具有高效、節(jié)能、環(huán)保、長壽命、易于控制等優(yōu)點。目前在LED照明行業(yè)中，LED芯片技術(shù)已相當穩(wěn)定可靠，但LED燈具卻經(jīng)常出故障，驅(qū)動電源可靠性成為目前LED照明行業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵技術(shù)問題。影響電源品質(zhì)的根源在于:一是LED燈具工作環(huán)境惡劣;二是關(guān)鍵器件的選擇和測試，尤其是LED驅(qū)動電源中的關(guān)鍵器件——磁性元件。到目前為止針對LED驅(qū)動電源磁性元件的測試方法基本沒有標準可依，也沒一種專門的測試裝置。因此，如何對磁性元件進行有效測試，是

2、提高驅(qū)動電源質(zhì)量的極其重要的手段。
　　 本文在對國內(nèi)外磁性元件測試技術(shù)的資料進行積累和分析的基礎(chǔ)上，從理論上分析了磁性材料的磁化過程和磁化曲線，建立了適合LED驅(qū)動電源在工作條件下的電感量、秒伏容量、飽和電流、器件損耗等表征磁性元件性能的電參數(shù)指標體系，建立了在測試條件下與實際工作條件下電參數(shù)的轉(zhuǎn)換關(guān)系。然后，研究了磁性元件電流波形與電參數(shù)的內(nèi)在聯(lián)系，建立電流波形與磁性元件電參數(shù)的對應(yīng)關(guān)系，提出一種可行的、快速的、實時的波形識

3、別算法方案，通過波形特征的識別，獲得磁性元件的電參數(shù)。接著，提出以ARM和FPGA的嵌入式測試方案，構(gòu)建了有效的智能化測試平臺。整個測試系統(tǒng)包括大功率驅(qū)動電源、人機交互界面、動態(tài)波形識別算法、磁性元件驅(qū)動電路和高速采樣電路五個部分，對每部分的硬件電路進行了功能測試，對波形識別算法進行了深入的分析與測試，達到了實際應(yīng)用的目標。
　　 最后，采用本系統(tǒng)對不同規(guī)格的磁性元件進行測試，并對測試數(shù)據(jù)作了仔細的分析與比較，達到了既定目標，為