邊界掃描測試系統(tǒng)配置及測試對象描述技術(shù)研究.pdf

1、隨著芯片制造工藝的升級、電路功能的增強(qiáng)和芯片規(guī)模的提高,傳統(tǒng)探針測試方法已無法滿足特大規(guī)模、巨大規(guī)模集成電路的測試要求,邊界掃描技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,成為主流可測性設(shè)計(jì)技術(shù)之一,從而突破了數(shù)字電路的測試難題,實(shí)現(xiàn)了電路板故障診斷與定位的功能,滿足了超大規(guī)模集成電路的測試需求。
　　然而,隨著邊界掃描器件的增加,非邊界掃描器件并沒有減少,仍然大量存在。雖然邊界掃描技術(shù)是目前主流可測性技術(shù)之一,但是采用邊界掃描技術(shù)對邏輯簇進(jìn)行測試的研究尚不多

2、見。據(jù)研究調(diào)查結(jié)果推測,BS器件和非BS器件在很長的時(shí)間里必將共存。因此,研究BS器件和非BS器件的配置問題,對實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)的高效測試具有很重要的應(yīng)用價(jià)值。
　　本文在深入研究邊界掃描測試技術(shù)原理的基礎(chǔ)上,重點(diǎn)研究了系統(tǒng)配置問題。以完善數(shù)據(jù)管理機(jī)制,便于各個(gè)模塊之間調(diào)用數(shù)據(jù)為目標(biāo),在測試軟件中引進(jìn)了嵌入式數(shù)據(jù)庫SQLite3技術(shù),實(shí)現(xiàn)了BS器件的系統(tǒng)配置。然后在簇測試原理的基礎(chǔ)上,考慮到測試用例的可重用性和可擴(kuò)展性,使用了TCL嵌入C