邊界掃描測試技術(shù)原理_第1頁
已閱讀1頁，還剩34頁未讀， 繼續(xù)免費閱讀

下載本文檔

版權(quán)說明：本文檔由用戶提供并上傳，收益歸屬內(nèi)容提供方，若內(nèi)容存在侵權(quán)，請進行舉報或認領(lǐng)

文檔簡介

1、邊界掃描測試技術(shù)原理,員工培訓(xùn)中心2005年11月15日,課程目的,1、了解邊界掃描器件的基本結(jié)構(gòu)；2、了解邊界掃描測試技術(shù)的原理；3、了解邊界掃描描述語言BSDL的基本格式；4、了解邊界掃描測試技術(shù)的主要應(yīng)用；5、了解邊界掃描JTAG接口的設(shè)計規(guī)范；,課程目錄,課程目錄,1.1 什么是JTAG ？,1.2 使用JTAG的好處,2.1 邊界掃描器件的結(jié)構(gòu),2.2 邊界掃描器件的結(jié)構(gòu),2.3 TAP-Test Access Po

2、rt,2.4 控制器的16位狀態(tài)機,2.5 TAP控制器,2.6 TAP控制器口線功能和關(guān)系1,2.7 TAP控制器口線功能和關(guān)系2,3.1 JTAG電路指令,3.2 JTAG電路指令碼,3.3 BSDL簡單介紹,3.4 BYPASS指令的執(zhí)行,,,,,進入BYPASS狀態(tài)后，TDI和TDO之間只有1BIT位,3.5 EXTEST指令的執(zhí)行,進入EXTEST狀態(tài)后，可以對器件的管腳進行測試,3.6 INTEST指令的執(zhí)行,進入INTES

3、T狀態(tài)后，對器件的內(nèi)部邏輯進行測試,4.1 邊界掃描的主要應(yīng)用－TAPIT,4.2 邊界掃描的主要應(yīng)用－TAPIT,TAPIT:TAP Integrity Test,4.3 邊界掃描的主要應(yīng)用－BICT,4.4 邊界掃描的主要應(yīng)用－BICT,BICT:BoundaryScan In Circuit Test,4.5 邊界掃描的主要應(yīng)用－VIT,4.6 邊界掃描的主要應(yīng)用－VIT,VIT:Virtual Interconnect Test

4、,4.7 邊界掃描的主要應(yīng)用－VCCT,4.8 邊界掃描的主要應(yīng)用－VCCT,VCCT:Virtual Component Cluster Test,4.9 邊界掃描的主要應(yīng)用－PPT,4.10 邊界掃描的主要應(yīng)用－PPT,PPT:Parallel Port Test,4.11 邊界掃描的主要應(yīng)用－ILDP,4.12 邊界掃描的主要應(yīng)用－ILDP,ILDP:In line Device Program,5.1 邊界掃描設(shè)計規(guī)范,5.2

溫馨提示

  • 1. 本站所有資源如無特殊說明，都需要本地電腦安裝OFFICE2007和PDF閱讀器。圖紙軟件為CAD,CAXA,PROE,UG,SolidWorks等.壓縮文件請下載最新的WinRAR軟件解壓。
  • 2. 本站的文檔不包含任何第三方提供的附件圖紙等，如果需要附件，請聯(lián)系上傳者。文件的所有權(quán)益歸上傳用戶所有。
  • 3. 本站RAR壓縮包中若帶圖紙，網(wǎng)頁內(nèi)容里面會有圖紙預(yù)覽，若沒有圖紙預(yù)覽就沒有圖紙。
  • 4. 未經(jīng)權(quán)益所有人同意不得將文件中的內(nèi)容挪作商業(yè)或盈利用途。
  • 5. 眾賞文庫僅提供信息存儲空間，僅對用戶上傳內(nèi)容的表現(xiàn)方式做保護處理，對用戶上傳分享的文檔內(nèi)容本身不做任何修改或編輯，并不能對任何下載內(nèi)容負責(zé)。
  • 6. 下載文件中如有侵權(quán)或不適當(dāng)內(nèi)容，請與我們聯(lián)系，我們立即糾正。
  • 7. 本站不保證下載資源的準(zhǔn)確性、安全性和完整性, 同時也不承擔(dān)用戶因使用這些下載資源對自己和他人造成任何形式的傷害或損失。

評論

0/150

提交評論