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1、該文結(jié)合一個(gè)具體電路板在線測(cè)試實(shí)現(xiàn),首先討論了在ICT中,采用邊界掃描元件測(cè)試技術(shù)實(shí)現(xiàn)在線測(cè)試生產(chǎn);并在分析歸納各種測(cè)試方法的基礎(chǔ)上探索一種新的改進(jìn)方法.該文進(jìn)一步分析了邊界掃描測(cè)試矢量生成機(jī)制.測(cè)試矢量中大多數(shù)是用于測(cè)試引腳之間是否有短路或有引腳開路情況的,引入DeltaScan測(cè)試IC的引腳的開路和短路情況后,就可從XC5210_TQ144的測(cè)試矢量集中去掉/合并與短路,開路測(cè)試有產(chǎn)的測(cè)試矢量,進(jìn)一步減少了邊界掃描所需的測(cè)試矢量.D
2、eltaScan技術(shù)還解決了那些無法用邊界掃描測(cè)試方法進(jìn)行測(cè)試的非輸入輸出引腳的測(cè)試問題.該課題給出了具體開發(fā)步驟,測(cè)試矢量和測(cè)試程序清單,并對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果進(jìn)行了討論.從試驗(yàn)結(jié)果可知,偽窮舉法與DeltaScan相結(jié)合的確是生成邊界掃描測(cè)試矢量的一個(gè)非常簡(jiǎn)單實(shí)用的方法,適用于任何一種邊界掃描元件的測(cè)試矢量的生成.該文嘗試的測(cè)試方法步驟具有一般性,不依賴于特定的測(cè)試設(shè)備.進(jìn)一步減少了矢量個(gè)數(shù),提高了邊界掃描元件的測(cè)試速度約15倍,使整個(gè)電路板
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