基于邊界掃描技術(shù)的PCB功能模件測試方法的研究.pdf

1、隨著表面貼裝技術(shù)廣泛使用和印制電路板(PCB)密度的越來越高，采用增加電路測試點的傳統(tǒng)針床測試技術(shù)和增加附加的測試電路來對復雜電路進行單獨測試等方法，對提高超大規(guī)模集成電路(VLSI)的可測性十分有限而且通用性較差。為提高電路和系統(tǒng)的可測試性，聯(lián)合測試行動組(JTAG)提出來了一種新的測試方法即邊界掃描技術(shù)。邊界掃描技術(shù)提供了針對電路板上器件的互連、器件功能等進行測試的新方法，是一種完整的、標準化的可測性設計方法，對提高電路的可測試性，

2、降低電路板的維護和保障費用具有重要的意義。
　　 本文對邊界掃描技術(shù)的基本原理和方法進行了深入地研究，建立了PCB功能模件故障的數(shù)學模型。在生成思想和故障診斷能力等方面，對經(jīng)典的邊界掃描測試矢量生成算法進行了認真地研究和總結(jié)。根據(jù)測試算法完備性和緊湊性的要求，提出了一種經(jīng)過優(yōu)化的等權(quán)值互連測試算法。該算法不僅繼承了等權(quán)值算法的緊湊性，而且降低了故障的征兆混淆率，是一種具有優(yōu)良性能的算法。
　　 本文設計實現(xiàn)了邊界掃描的測