基于ieee1149.1的多邊界掃描鏈測(cè)試技術(shù)研究

1、 分類號(hào) 密級(jí) U D C 編號(hào) 桂林電子科技大學(xué) 碩 士 學(xué) 位 論 文 題目 題目 基于 基于 IEEE1149.1 的多邊界掃描鏈測(cè)試技術(shù)研究 的多邊界掃描鏈測(cè)試技術(shù)研究

2、（英文 （英文）Research On Multiple Boundary Scan Chains Test Technology Based On IEEE1149.1 研 究 生 姓 名: 李 坤 指導(dǎo)教師姓名、職務(wù) 指導(dǎo)教師姓名、職務(wù): 雷 加 副 申 請(qǐng) 學(xué) 位 門 類: 工 學(xué) 碩 士

3、 學(xué) 科、專 科、專 業(yè): 測(cè)試計(jì)量技術(shù)及儀器 提 交 論 文 日 期: 2006 年 4 月 論 文 答 辯 日 期: 2006 年 6 月 年 月 日 基于 IEEE1149.1 的多邊界掃描鏈測(cè)試技術(shù)研究

4、 Ⅰ 摘要 隨著集成電路復(fù)雜性的不斷增加和集成度的不斷提高，電路測(cè)試變得越來(lái)越困難。 邊界掃描技術(shù)正是為了解決這一問(wèn)題而產(chǎn)生的一種結(jié)構(gòu)可測(cè)性設(shè)計(jì)方法， 但是由于其數(shù)據(jù)串行移位的特點(diǎn)， 使得測(cè)試時(shí)間過(guò)長(zhǎng)， 如果采用并行多鏈的測(cè)試方法則可以大大的縮短測(cè)試時(shí)間，提高測(cè)試效率。本文正是以此為研究方向，重點(diǎn)對(duì)多邊界掃描鏈的優(yōu)化配置以及多鏈的互連測(cè)試實(shí)現(xiàn)進(jìn)行研究。 本文在深入研究 IEEE1149.1 標(biāo)準(zhǔn)后，根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)提出的幾種掃描鏈結(jié)構(gòu)，重點(diǎn)解決