基于ieee1149.1標準的可測性設計優(yōu)化與評估研究

1、密級桂林電子科技大學碩士學位論文題目題目基于IEEE1149.1標準的可測性設計優(yōu)化與評估研究（英文）ResearchofTestabilityDesignfOptimizationEvaluationBasedonIEEE1149.1Stard研究生學號:112081310研究生姓名:黃小容指導教師姓名、職務指導教師姓名、職務:顏學龍教授申請學科門類:工學碩士學科、?？?、專業(yè):精密儀器及機械提交論文日期:2014年4月論文答辯日期:2

2、014年6月摘要I摘要電路系統(tǒng)的高集成度、高復雜度、高密度化，使得系統(tǒng)的測試越來越困難，可測性設計成為解決這類難題的主要手段。邊界掃描測試技術方法是一種新型的結(jié)構(gòu)可測性設計方法，它可以極大地減少對電路板上物理測試點的需要。然而其串行性的特點延長了系統(tǒng)的測試時間，所以如何設計掃描鏈路來減少測試時間和提高故障覆蓋率成為可測性設計優(yōu)化和評估研究的重點和難點。本文在深入研究IEEE1149.1標準的基礎上，重點研究可測性設計優(yōu)化和評估方法，以設

3、計復雜性最小化和提高測試完備性指標為目標，研究器件與網(wǎng)路的構(gòu)造模型、電路信息的提取、提高故障覆蓋率和縮短掃描鏈周期的方法。比較了貪婪算法、圖論算法、模擬退火算法和模擬退火遺傳混合算法對掃描鏈的優(yōu)化作用，總結(jié)各算法在實際應用中的優(yōu)缺點。相比其他算法，模擬退火遺傳算法對復雜的數(shù)字電路的優(yōu)化結(jié)果最優(yōu)，最后輸出測試性評估報告，并保存在系統(tǒng)ini文件中，為可測性系統(tǒng)設計復雜性最小化和測試性改善最大化提供了依據(jù)。關鍵詞：關鍵詞：邊界掃描技術可測性設