基于IEEEP1687的可測性設(shè)計(jì)研究.pdf

1、隨著現(xiàn)代芯片生產(chǎn)工藝的高速發(fā)展，嵌入式儀器的應(yīng)用越來越廣泛。如何實(shí)現(xiàn)嵌入式儀器的高效訪問并兼容傳統(tǒng)的板級測試標(biāo)準(zhǔn)成為一個(gè)新的問題。IEEE P1687（IJTAG）標(biāo)準(zhǔn)定義了一種由嵌入式儀器到 JTAG的高效、靈活且統(tǒng)一規(guī)范的儀器接口和可變掃描鏈路徑，其通過在掃描鏈中插入可實(shí)現(xiàn)掃描路徑變化功能的節(jié)點(diǎn)—SIB，使得系統(tǒng)中的掃描鏈具有靈活可變的特性。在針對嵌入式儀器的訪問過程中根據(jù)訪問操作需要選擇掃描鏈路徑，以盡可能的移除不必要的掃描鏈，從

2、而減少測試過程中移位操作的掃描鏈長度，達(dá)到節(jié)約測試時(shí)間，提高訪問效率的目的。
　　本文介紹了IEEE P1687這一新標(biāo)準(zhǔn)，分析了傳統(tǒng)的IEEE1149.1標(biāo)準(zhǔn)在嵌入式儀器訪問應(yīng)用中的缺點(diǎn)及IEEE P1687的優(yōu)勢，并設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了IEEE P1687標(biāo)準(zhǔn)中核心部分SIB和GateWay的功能，設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了P1687的單層、多層和混合多層網(wǎng)絡(luò)結(jié)構(gòu)，并對相應(yīng)的掃描鏈路徑變化功能進(jìn)行了仿真驗(yàn)證。最后提出了基于 IEEE P1687網(wǎng)絡(luò)的并

3、發(fā)進(jìn)程與順序進(jìn)程兩種訪問方式，通過對訪問操作中每一步的分析計(jì)算得出IEEE P1687網(wǎng)絡(luò)的總體訪問時(shí)間（OAT），并與相同情況下IEEE1149.1網(wǎng)絡(luò)的總體訪問時(shí)間（OAT）進(jìn)行了對比。
　　驗(yàn)證結(jié)果表明本文所設(shè)計(jì)的多個(gè)IEEE P1687網(wǎng)絡(luò)能夠很好地完成掃描鏈路徑的選擇功能，且通過對不同情況下的網(wǎng)絡(luò)總體訪問時(shí)間（OAT）分析，表明 IEEE P1687網(wǎng)絡(luò)的并發(fā)進(jìn)程訪問方式具有更優(yōu)的訪問效率。本文所設(shè)計(jì)的基于 IEEE P