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文檔簡介
1、該文的研究即是針對集成芯片中的可測性設(shè)計問題進行的,主要包括以下幾個方面的工作:首先討論了集成芯片中的可測性設(shè)計的重要性及其主要設(shè)計方法,并對這幾種設(shè)計方法的優(yōu)缺點進行了簡單的總結(jié).然后針對在CETC58所進行的DSP設(shè)計項目,結(jié)合自己的體會,對其中的可測性設(shè)計進行了一些總結(jié).重點介紹了DSPC30-40芯片中的全掃描設(shè)計的可測性設(shè)計思想,具體分析了其中的可測性設(shè)計的控制部分邏輯.最后對DSPC30-40的可測性設(shè)計方法和IEEE 11
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