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1、隨著科技的發(fā)展,新的電子產(chǎn)品的電路板元件安裝密度大、管腳密集、可測(cè)點(diǎn)少,使傳統(tǒng)針床和探頭等檢測(cè)設(shè)備很難應(yīng)用。本文針對(duì)數(shù)字測(cè)試自身的新特點(diǎn),考慮到現(xiàn)在目前大多數(shù)數(shù)字電子電路廣泛應(yīng)用的CPLD、FPGA、MCU及DSP等重要器件都已支持邊界掃描的基本功能,以及電力電子設(shè)備的全面數(shù)字化趨勢(shì),提出并實(shí)現(xiàn)了一種基于虛擬儀器思想的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng),試圖為數(shù)字系統(tǒng)測(cè)試提供一種通用的有效工具。
這種通用的邊界掃描測(cè)試系統(tǒng)由PC主機(jī)、JTAG控
2、制器兩部分組成。本文在深入闡述邊界掃描測(cè)試?yán)碚摵虸EEE1149.1協(xié)議的基礎(chǔ)上,討論了利用PC主機(jī)完成測(cè)試矢量的生成加載及測(cè)試響應(yīng)的存儲(chǔ)分析,從而全面實(shí)現(xiàn)掃描鏈完備性測(cè)試、板級(jí)互連測(cè)試、芯片功能測(cè)試和非邊界掃描器件的簇測(cè)試功能的全過(guò)程。提供的軟件界面從方便測(cè)試者的角度出發(fā),精心策劃了整個(gè)操作過(guò)程??刂破鞯拈_(kāi)發(fā)與采用傳統(tǒng)專(zhuān)用JTAG主控器模塊的方式不同,采用模擬軟件利用并口配置下載電纜完成,便于了解數(shù)據(jù)傳輸和TAP控制狀態(tài)的細(xì)節(jié)過(guò)程。<
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