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文檔簡介
1、邊界掃描測試技術(shù)是一種可測性設(shè)計技術(shù)，可用于實現(xiàn)芯片級、板級甚至系統(tǒng)級的電路測試和故障診斷。隨著集成電路設(shè)計和制造工藝的不斷進步，邊界掃描測試技術(shù)正得到越來越多的關(guān)注。但由于目前國內(nèi)缺乏標(biāo)準(zhǔn)的測試平臺，利用邊界掃描測試機制進行電路測試和診斷還較為少見。 本文在分析邊界掃描測試技術(shù)的基本原理及IEEEll49．1標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上，提出并討論了一種基于SoC的邊界掃描測試硬件系統(tǒng)的設(shè)計方案。根據(jù)設(shè)計流程，首先將邊界掃描測試硬件系統(tǒng)劃分成
2、邊界掃描主控器、通信控制模塊和測試存儲器模塊三個部分，其中邊界掃描主控器是該系統(tǒng)的核心部分，又可以細(xì)分為CPU和邊界掃描接口兩個模塊。然后利用QuartuslI軟件對各模塊進行設(shè)計、綜合、仿真，最后下載到FPGA芯片中進行調(diào)試。調(diào)試結(jié)果表明，該測試硬件系統(tǒng)產(chǎn)生的測試信號完全滿足IEEEll49．1標(biāo)準(zhǔn)的時序要求，可用于集成電路和印制電路板的邊界掃描測試。 本課題利用Altera公司的Nios開發(fā)板作為硬件開發(fā)平臺，借助Quart
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