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文檔簡介
1、隨著電子電路技術(shù)的日新月異的更新,集成電路芯片越來越復(fù)雜,使用傳統(tǒng)的萬用表測試硬件電路越來越無法滿足如今大規(guī)模集成電路故障芯片的測試需求。如何彌補(bǔ)傳統(tǒng)測試的缺陷,為復(fù)雜的集成電路提供高效的測試方法已經(jīng)成為當(dāng)前電路測試領(lǐng)域的相關(guān)研究課題之一。
基于IEEE1149.1國際標(biāo)準(zhǔn)的JTAG測試技術(shù)是由著名的國際測試行為組織所規(guī)定的一種全新的集成電路測試方法,它的提出為復(fù)雜電路的測試定義了一個標(biāo)準(zhǔn)的接口。本文主要工作內(nèi)容就是在分析和研
2、究基于JTAG標(biāo)準(zhǔn)的邊界掃描測試技術(shù)的基礎(chǔ)之上,實(shí)現(xiàn)對其的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)。文中首先介紹了可測性設(shè)計(jì)的基本概念,并詳細(xì)介紹了邊界掃描技術(shù)的基本思想和實(shí)現(xiàn)原理,邊界掃描測試是以IEEE1149.1國際標(biāo)準(zhǔn)為基礎(chǔ)實(shí)現(xiàn)對芯片外圍引腳的準(zhǔn)確測試。該標(biāo)準(zhǔn)一共有2個主要的組成部分,第一部分是規(guī)定了邊界掃描標(biāo)準(zhǔn)的基本結(jié)構(gòu)IEEE1149.1-A,第二部分是定義邊界掃描描述語言BSDL的IEEE1149.1-B。接著重點(diǎn)介紹了邊界掃描測試的設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn),主要包
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