基于JTAG標準的邊界掃描測試技術的分析與研究.pdf

1、隨著電子電路技術的日新月異的更新,集成電路芯片越來越復雜,使用傳統(tǒng)的萬用表測試硬件電路越來越無法滿足如今大規(guī)模集成電路故障芯片的測試需求。如何彌補傳統(tǒng)測試的缺陷,為復雜的集成電路提供高效的測試方法已經成為當前電路測試領域的相關研究課題之一。
　　基于IEEE1149.1國際標準的JTAG測試技術是由著名的國際測試行為組織所規(guī)定的一種全新的集成電路測試方法,它的提出為復雜電路的測試定義了一個標準的接口。本文主要工作內容就是在分析和研

2、究基于JTAG標準的邊界掃描測試技術的基礎之上,實現(xiàn)對其的設計與實現(xiàn)。文中首先介紹了可測性設計的基本概念,并詳細介紹了邊界掃描技術的基本思想和實現(xiàn)原理,邊界掃描測試是以IEEE1149.1國際標準為基礎實現(xiàn)對芯片外圍引腳的準確測試。該標準一共有2個主要的組成部分,第一部分是規(guī)定了邊界掃描標準的基本結構IEEE1149.1-A,第二部分是定義邊界掃描描述語言BSDL的IEEE1149.1-B。接著重點介紹了邊界掃描測試的設計與實現(xiàn),主要包