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1、隨著集成電路技術(shù)的發(fā)展,電路的集成度和復(fù)雜度越來(lái)越大,隨之帶來(lái)諸如測(cè)試等一系列問(wèn)題??蓽y(cè)性設(shè)計(jì)是指在電路設(shè)計(jì)的同時(shí)考慮測(cè)試問(wèn)題,已成為集成電路設(shè)計(jì)重要的組成部分。本文設(shè)計(jì)了基2DIT—FFT算法的IP軟核,選擇順序處理的方式作為IP核的設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu),并在設(shè)計(jì)之中對(duì)部分電路進(jìn)行了可測(cè)性設(shè)計(jì)。采用自項(xiàng)向下的設(shè)計(jì)方法對(duì)整個(gè)FFTIP核進(jìn)行模塊劃分,用VHDL硬件描述語(yǔ)言對(duì)各個(gè)模塊編程,并在QuartusⅡ軟件環(huán)境下進(jìn)行綜合仿真,通過(guò)設(shè)計(jì)結(jié)果和Ma
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