基于ieee1149.4的混合信號電路可測性結(jié)構(gòu)研究

1、分類號 密 級 U D C U D C 編 號 桂林電子科技大學(xué) 碩 士 學(xué) 位 論 文 碩 士 學(xué) 位 論 文 題目 題目 基于 IEEE1149.4 的混合信號電路可測性結(jié)構(gòu)研究

2、（英文） （英文） Research on the Testability Structure of Mixed-Signal Circuit Based on IEEE1149.4 研 究 生 姓 名:研 究 生 姓 名: 蘇 波 指導(dǎo)教師姓名、職務(wù):指導(dǎo)教師姓名、職務(wù): 雷 加 教授 申 請 學(xué) 位 門 類:申

3、請 學(xué) 位 門 類: 工學(xué)碩士 學(xué) 科、專 業(yè):學(xué) 科、專 業(yè): 測試計量技術(shù)及儀器 提 交 論 文 日 期: 提 交 論 文 日 期: 2007 年 04 月 論 文 答 辯 日 期:論 文 答 辯 日 期: 2007 年 06 月 年 月 日 摘 要

4、 I摘 要 隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展， 電路的集成度越來越高， 使其測試面臨越來越多的問題。目前，可測性設(shè)計成為解決測試問題的主要手段之一，而邊界掃描技術(shù)是眾多可測性設(shè)計方法中使用較為廣泛的一種， 因此研究基于邊界掃描技術(shù)的可測性結(jié)構(gòu)具有重要的理論價值和實際意義。 本文在深入研究 IEEE1149.1 及 IEEE1149.4 標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)上， 對基于邊界掃描的混合信號電路的可測性結(jié)構(gòu)進行了探索； 設(shè)計并實現(xiàn)了符合標(biāo)準(zhǔn)的混合信號電路邊界掃描

5、可測性結(jié)構(gòu)各組成部分， 包括 TAP 控制器、 數(shù)字邊界掃描單元、 模擬邊界掃描單元、測試總線接口電路及測試寄存器； 對所設(shè)計的混合信號電路可測性結(jié)構(gòu)用可編程邏輯器件及外部模擬電路進行硬件的具體實現(xiàn)，構(gòu)建了驗證模塊 DOT4MBST；同時以DOT4MBST 與 IEEE1149.4 工作組提供的標(biāo)準(zhǔn)驗證芯片為核心對同結(jié)構(gòu)的混合信號電路構(gòu)建了驗證電路。最后對驗證模塊 DOT4MBST 及驗證電路進行了測試驗證。 測試結(jié)果表明， 所設(shè)計的混