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1、反射比和透射比是評價光學(xué)元件光學(xué)薄膜等光學(xué)性能的重要參數(shù)，也是開發(fā)新型光電材料的一個重要依據(jù)。本文在單次反射測量法的基礎(chǔ)上，結(jié)合激光穩(wěn)功率技術(shù)、精密探測技術(shù)以及雙光路測量技術(shù)，研建了一套激光光學(xué)元件高反射比、高透射比測量系統(tǒng)，解決了單次反射測量法中由于光源的光強(qiáng)波動和探測器面響應(yīng)度不均勻所引起的測量不確定度偏大的問題，從根本上解決光學(xué)元件和光學(xué)薄膜的高反射比和高透射比精確測量問題，不僅實(shí)現(xiàn)了不同入射角度的高反射比測量，也實(shí)現(xiàn)了高透射比測
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