半導(dǎo)體激光器可靠性的無(wú)損評(píng)價(jià)技術(shù)研究.pdf

1、自從上個(gè)世紀(jì)六十年代發(fā)展以來(lái)，半導(dǎo)體激光器在光電子科學(xué)和技術(shù)領(lǐng)域中占有重要的一席之地。半導(dǎo)體激光器隨著不斷地在各種領(lǐng)域中得到了適合的應(yīng)用之后，半導(dǎo)體激光器的發(fā)展極其迅猛。如今半導(dǎo)體激光器在光纖通信，生物醫(yī)療，信息存儲(chǔ)等領(lǐng)域中都有著普遍應(yīng)用并且應(yīng)用的范圍也在不斷地?cái)U(kuò)展。
　　半導(dǎo)體激光器的無(wú)損評(píng)價(jià)技術(shù)有助于半導(dǎo)體激光器的篩選，能夠快速地篩選出可靠性高的器件，有利于縮短產(chǎn)品測(cè)試周期，避免了傳統(tǒng)方法中所帶來(lái)的資源損耗和浪費(fèi)。電導(dǎo)數(shù)方法是

2、目前對(duì)于半導(dǎo)體激光器進(jìn)行無(wú)損評(píng)價(jià)方法中處于優(yōu)勢(shì)地位的方法之一。
　　本文基于電導(dǎo)數(shù)方法和傳統(tǒng)的電老化方法來(lái)對(duì)器件的評(píng)價(jià)技術(shù)開(kāi)展了相關(guān)實(shí)驗(yàn)工作。對(duì)12個(gè)器件進(jìn)行傳統(tǒng)的電老化，在器件的老化過(guò)程中監(jiān)測(cè)其P-I-V特性參數(shù)，光場(chǎng)分布情況和電導(dǎo)數(shù)參數(shù)的變化。處理了大量的數(shù)據(jù)為電導(dǎo)數(shù)方法理論提供支撐。分析了樣品期間的電特性參數(shù)變化趨勢(shì)和光場(chǎng)分布變化趨勢(shì)，結(jié)合了電導(dǎo)數(shù)方法的變化與器件的壽命關(guān)系來(lái)對(duì)樣品器件在老化過(guò)程中的變化進(jìn)行了定性分析。作者建