工業(yè)CT圖像的探測器串?dāng)_偽影研究.pdf

1、工業(yè)CT技術(shù)是一種非常重要的無損檢測手段。在人們對工業(yè)CT技術(shù)進行深入研究和廣泛使用的過程中，發(fā)現(xiàn)了許多有待解決和需進一步深入探討的問題。其中，對CT圖像中因探測器串?dāng)_而產(chǎn)生的偽影進行分析研究就是熱點之一。研究探測器串?dāng)_的大小和影響它的因素，以及串?dāng)_偽影對CT圖像的影響，從而找到消除或減輕串?dāng)_產(chǎn)生的圖像偽影的方法具有十分重要的工程應(yīng)用價值。
　　本文主要的研究工作包括三個方面的內(nèi)容。根據(jù)工業(yè)輻射探測器的工作機理和結(jié)構(gòu)特點，把探測器

2、串?dāng)_分為一致的串?dāng)_、模塊邊緣串?dāng)_，并利用蒙特卡洛方法對這兩種串?dāng)_進行了模擬仿真；分析了這兩種串?dāng)_對CT圖像的影響；分析了常見的抑制串?dāng)_的三種方法，并模擬實現(xiàn)了其中的兩種方法。
　　利用EGSnrc軟件仿真得到了80keV~650keV的低能X射線能譜，為本文的仿真實驗提供了射線源輸入文件；根據(jù)300BXR低能X射線CT系統(tǒng)的探測器結(jié)構(gòu)，編寫了探測器模塊程序，為本文的仿真實驗提供了探測器模塊的輸入文件。建立了上述兩種串?dāng)_的仿真模型，

3、并重建出相應(yīng)的CT圖像。模擬仿真結(jié)果表明：探測器串?dāng)_不僅會降低CT圖像的空間分辨率，而且會導(dǎo)致CT圖像上出現(xiàn)大量的環(huán)狀或者是條狀偽影。
　　從入射X光子能量、準(zhǔn)直器距探測器的距離、照射面積、被檢測物體的厚度等方面分別進行了仿真分析，得到了影響串?dāng)_的幾個重要因素和影響程度的關(guān)系，為探測器的設(shè)計和串?dāng)_的校正提供了依據(jù)。
　　最后介紹了抑制串?dāng)_的三種方法。第一，添加隔離層減小串?dāng)_；第二，測得串?dāng)_系數(shù)，并據(jù)此系數(shù)校正串?dāng)_；第三，從圖