基于高光譜成像技術(shù)的花生仁質(zhì)量無損檢測研究.pdf

1、種皮破損、蟲蝕和霉變是影響花生仁質(zhì)量的重要指標，常規(guī)檢測手段費時、耗力，成本較高。高光譜成像技術(shù)集圖像分析和光譜分析于一身，在食品、農(nóng)產(chǎn)品內(nèi)外綜合品質(zhì)快速、無損檢測上具有一定的優(yōu)勢。本論文開展了基于高光譜成像技術(shù)的花生仁種皮破損、蟲蝕和霉變的快速、無損檢測研究，主要內(nèi)容如下:
　　(1)利用高光譜成像技術(shù)對破衣花生仁的識別研究。以白玉花生仁作為研究對象，采集種皮破損粒和完好?；ㄉ实膱D像。經(jīng)過全波段主成分分析后，根據(jù)第3和第4主成

2、分圖像的權(quán)重系數(shù)，篩選出571nm、685nm和788nm三個特征波長。擬采用兩種算法進行分析:①二次主成分分析算法，提取主成分目標圖像，經(jīng)過一系列的圖像處理，提取破損區(qū)域;②波段比算法，進行兩兩波段比值運算，篩選出788nm/685nm比值圖像進行二階概率統(tǒng)計的濾波計算，得到對比度和相關(guān)性等8幅特征圖像，挑選出易于分割的目標圖像進行破損區(qū)域的提取。分析得到，二次主成分分析算法的識別率為91.67％，波段比算法為86.67％，結(jié)果表明高

3、光譜成像技術(shù)用于破衣花生仁識別是可行的。
　　(2)利用高光譜成像技術(shù)檢測花生仁霉變的研究。首先采集霉變和正常花生仁樣本的高光譜圖像。霉變花生表面因黃曲霉菌的生長而使其表面的光學特性發(fā)生變化，采用SAM和MDC兩種光譜匹配技術(shù)對花生表面的霉變區(qū)域進行識別，兩種算法均取得較高的識別結(jié)果，尤其MDC算法，其識別率達到92％，結(jié)果表明高光譜成像技術(shù)用于霉變花生仁識別是可行的。
　　(3)利用高光譜成像技術(shù)識別蟲蝕花生仁的研究。采集