固態(tài)盤的通道級(jí)RAID研究.pdf

1、與傳統(tǒng)的機(jī)械硬盤相比，基于閃存的固態(tài)盤具有諸多優(yōu)點(diǎn):性能高、能耗低、抗震強(qiáng)、體積小。然而，閃存廠商為了降低造價(jià)，持續(xù)地縮小閃存單元的體積并且提高每個(gè)閃存單元所存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)位數(shù)。然而，這兩種方法都會(huì)大幅降低閃存的可靠性和壽命，導(dǎo)致硬錯(cuò)誤，如塊或晶圓錯(cuò)誤的發(fā)生幾率大大提高。在多通道并行工作的固態(tài)盤內(nèi)，大部分軟錯(cuò)誤，如寫干擾、讀干擾都可以被ECC糾錯(cuò)碼，然而修正硬錯(cuò)誤通常需要使用數(shù)據(jù)冗余機(jī)制，如RAID(redundant array ofin

2、dependent disks)。
　　本文針對(duì)應(yīng)用于固態(tài)盤內(nèi)通道級(jí)的RAID機(jī)制進(jìn)行研究，本文的工作主要有以下幾個(gè)方面:首先，本文分析比較了應(yīng)用于固態(tài)硬盤上的不同RAID機(jī)制;其次，我們將幾種常規(guī)RAID結(jié)構(gòu)移植到固態(tài)盤內(nèi)的通道級(jí)，并驗(yàn)證了其對(duì)固態(tài)盤性能的影響;第三，為了在增強(qiáng)固態(tài)盤可靠性的同時(shí)保持較好的性能，我們提出了一種新的應(yīng)用于關(guān)鍵任務(wù)的固態(tài)盤內(nèi)通道級(jí)數(shù)據(jù)冗余結(jié)構(gòu)，稱為CR5M（Mirroring-Powered Chan