利用PCB堿性蝕刻廢液制備納米銅導(dǎo)電膠.pdf_第1頁
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文檔簡(jiǎn)介

1、本論文的目的是以堿性蝕刻廢液為銅來源,先通過制備納米銅粉,最終制備納米銅導(dǎo)電膠。本論文的研究主要內(nèi)容包括兩個(gè)部分,一個(gè)是以堿性蝕刻廢液為銅來源,利用液相化學(xué)還原的方法制備納米銅粉;第二個(gè)部分是以制備出來的納米銅粉為導(dǎo)電填充料,添加到基材樹脂中制備納米銅粉導(dǎo)電膠。
   以堿性蝕刻廢液為銅來源,利用液相化學(xué)還原的方法制備納米銅粉,討論了堿性蝕刻廢液中銅濃度,制備納米銅的還原劑種類,還原劑濃度、反應(yīng)時(shí)間、反應(yīng)溫度以及十六烷基三甲基溴

2、化銨(CTAB)和聚乙烯吡咯烷酮(PVP)對(duì)制備納米銅粉的影響,通過實(shí)驗(yàn)得出以水合肼(N2H4·H2O)為最佳還原劑,還原劑濃度0.523mol/L、反應(yīng)時(shí)間30min、反應(yīng)溫度70℃、聚乙烯吡咯烷酮(PVP)和十六烷基三甲基溴化銨(CTAB)的質(zhì)量濃度分別0.003g/L、0.002g/L為最佳制備工藝參數(shù)。
   利用原子吸收光譜法(AAS)對(duì)反應(yīng)前后堿性蝕刻廢液銅濃度檢測(cè),反應(yīng)前銅濃度為136.467g/L,反應(yīng)后濾液中銅

3、濃度在2mg/L以下,銅的回收率在98%以上。通過X射線衍射分析(XRD)、掃描電子顯微鏡(SEM)、X射線衍射能譜分析(EDS)、X射線衍射電子能譜分析(XPS)、外可見光光譜分析(UV-vis)、紅外可見光光譜分析(FI-TR)、熱重分析(TG/DTA)等測(cè)試手段以及Schemer方程對(duì)納米銅粉進(jìn)行表征,得出制備出來的納米銅形狀是球狀,顆粒尺寸在100nm以下,純度高,抗氧化性好。
   以制備的納米銅粉為導(dǎo)電填充料添加到由

4、環(huán)氧樹脂、固化劑以及各種添加劑組成的有機(jī)物質(zhì)中制備納米銅導(dǎo)電膠。實(shí)驗(yàn)研究了增韌劑、硅烷偶聯(lián)劑、還原劑等各種添加劑對(duì)導(dǎo)電膠性能的影響和它們最佳添加值,研究發(fā)現(xiàn)不同的添加劑對(duì)導(dǎo)電膠性能的影響是不同的,實(shí)驗(yàn)最終選擇氣相納米二氧化硅為增韌劑,KH570為硅烷偶聯(lián)劑,甲醛為還原劑,它們最佳質(zhì)量添加量分別為1.5%、4%、3.0-3.5%。同時(shí),也研究了納米銅粉添加量對(duì)導(dǎo)電膠性能的影響,得出銅粉最佳的添加量為80%。在各種成分最佳添加量的情況下,制

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