基于ICCD的高場(chǎng)電致發(fā)光測(cè)量裝置設(shè)計(jì).pdf

1、在電氣絕緣領(lǐng)域，聚合物老化一直是備受關(guān)注的熱點(diǎn)。聚合物電致發(fā)光（Electroluminescence，EL）作為一種研究聚合物中空間電荷的注入、存儲(chǔ)、輸運(yùn)特性以及陷阱特性的有效手段，越來(lái)越受到廣大科研工作者的重視。但是由于聚合物的分子結(jié)構(gòu)非常復(fù)雜，導(dǎo)致了電致發(fā)光現(xiàn)象的復(fù)雜性以及相應(yīng)理論的復(fù)雜性。各國(guó)科研工作者針對(duì)電致發(fā)光現(xiàn)象提出了不同的測(cè)量方法及電致發(fā)光理論。由于空間電荷限制電流也能對(duì)聚合物的老化閾值進(jìn)行表征，將電致發(fā)光和空間電荷限制

2、電流進(jìn)行聯(lián)合測(cè)量得到廣泛的應(yīng)用。
　　本文利用普林斯頓儀器生產(chǎn)的PI-MAX型號(hào)ICCD和Acton SP2300單色儀作為信號(hào)采集裝置，加上自行設(shè)計(jì)的樣品室、真空系統(tǒng)、溫控設(shè)備、電源設(shè)備、保護(hù)電路等組成了一套有效的測(cè)量電致發(fā)光現(xiàn)象的裝置。并對(duì)其進(jìn)行了噪聲測(cè)試、光譜測(cè)試和直接拍攝測(cè)試。測(cè)試證明該裝置能夠?qū)崿F(xiàn)高場(chǎng)下光信號(hào)的采集。
　　另外在電致發(fā)光設(shè)備的基礎(chǔ)上進(jìn)行了空間電荷限制電流自動(dòng)測(cè)量系統(tǒng)的設(shè)計(jì)。利用MFC設(shè)計(jì)了該系統(tǒng)的軟

3、件部分，并設(shè)計(jì)了軟件保護(hù)，保證實(shí)驗(yàn)過(guò)程中設(shè)備的安全性。此外該系統(tǒng)還滿(mǎn)足在變溫條件下的自動(dòng)化測(cè)量。經(jīng)試驗(yàn)驗(yàn)證，其性能不僅能滿(mǎn)足空間電荷限制電流的測(cè)量，還能對(duì)微電流進(jìn)行實(shí)時(shí)采集。
　　利用電致發(fā)光設(shè)備對(duì)聚對(duì)苯二甲酸乙二酯薄膜(PET)進(jìn)行了電致發(fā)光實(shí)驗(yàn)和空間電荷限制電流實(shí)驗(yàn)。其中電致發(fā)光實(shí)驗(yàn)是在交流高壓方波下進(jìn)行，發(fā)光時(shí)間是在方波上升沿或下降沿之后0.5ms內(nèi)，發(fā)光閾值約為100kV/mm，發(fā)光光譜在403nm、464nm、516nm