紅外焦平陣列測(cè)試數(shù)據(jù)采集與評(píng)價(jià)技術(shù)研究.pdf

1、西安電子科技大學(xué)學(xué)位論文創(chuàng)新性聲明秉承學(xué)校嚴(yán)謹(jǐn)?shù)膶W(xué)風(fēng)和優(yōu)良的科學(xué)道德，本人聲明所呈交的論文是我個(gè)人在導(dǎo)師指導(dǎo)下進(jìn)行的研究工作及取得的研究成果。盡我所知，除了文中特另lJ)jn以標(biāo)注和致謝中所羅列的內(nèi)容以外，論文中不包含其他人已經(jīng)發(fā)表或撰寫過(guò)的研究成果；也不包含為獲得西安電子科技大學(xué)或其它教育機(jī)構(gòu)的學(xué)位或證書而使用過(guò)的材料。與我一同工作的同志對(duì)本研究所做的任何貢獻(xiàn)均已在論文中做了明確的說(shuō)明并表示了謝意。申請(qǐng)學(xué)位論文與資料若有不實(shí)之處，本人

2、承擔(dān)一切的法律責(zé)任。本人簽名：—互三望生塹1日期：西安電子科技大學(xué)關(guān)于論文使用授權(quán)的說(shuō)明本人完全了解西安電子科技大學(xué)有關(guān)保留和使用學(xué)位論文的規(guī)定，即：研究生在校攻讀學(xué)位期間論文工作的知識(shí)產(chǎn)權(quán)單位屬西安電子科技大學(xué)。學(xué)校有權(quán)保留送交論文的復(fù)印件，允許查閱和借閱論文；學(xué)校可以公布論文的全部或部分內(nèi)容，可以允許采用影印、縮印或其它復(fù)制手段保存論文。同時(shí)本人保證，畢業(yè)后結(jié)合學(xué)位論文研究課題再撰寫的文章一律署名單位為西安電子科技大學(xué)。本人簽名：至

3、絲整日期：＆叢；：絲導(dǎo)師簽名：立必日期：絲叢呈幺摘要摘要近年來(lái)，紅外技術(shù)與系統(tǒng)在軍事、工業(yè)、醫(yī)學(xué)和科學(xué)研究等許多領(lǐng)域得到了廣泛的應(yīng)用和發(fā)展。紅外探測(cè)器是紅外系統(tǒng)的關(guān)鍵技術(shù)和核心器件。紅外焦平面陣列(IRFPA)探測(cè)器由于其諸多特點(diǎn)一直是國(guó)內(nèi)外的研究熱點(diǎn)，它的發(fā)展極大地提高了紅外系統(tǒng)的性能。然而，紅外技術(shù)和系統(tǒng)的研究、開發(fā)、生產(chǎn)和應(yīng)用整個(gè)過(guò)程都會(huì)涉及到紅外焦平面陣列的測(cè)試與評(píng)價(jià)這一共性技術(shù)問(wèn)題。對(duì)紅外焦平面陣列測(cè)試與評(píng)價(jià)的關(guān)鍵技術(shù)之一是數(shù)

4、據(jù)采集，另一個(gè)關(guān)鍵技術(shù)就是數(shù)據(jù)處理。本文從紅外焦平面陣列探測(cè)器的性能參數(shù)測(cè)試方法入手開展研究工作。主要工作如下：l、通過(guò)閱讀大量資料，對(duì)紅外熱成像技術(shù)和紅外焦平面陣列技術(shù)的原理及發(fā)展現(xiàn)狀進(jìn)行了比較全面的分析研究，并對(duì)紅外焦平面陣列測(cè)試技術(shù)進(jìn)行整體闡述。2、詳細(xì)分析了紅外焦平面陣列探測(cè)器的工作條件和性能參數(shù)，并對(duì)各種性能參數(shù)的測(cè)試方法進(jìn)行了闡述，給出了測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)滿足的條件。3、結(jié)合以上所分析研究的紅外焦平面陣列的測(cè)試方法，提出了一種紅外焦