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文檔簡介
1、本文測量了在ZnO中加入少量的TiO2或CuO后樣品中的電子密度及其電阻率。以此為基礎,采用固相反應法分別制備了ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-MnO2,ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Co2O3和ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Cr2O3系列壓敏電阻,測試了其電性能;采用正電子壽命譜儀、符合正電子湮沒輻射多普勒裝置、掃描電鏡等多種實驗方法分析了其微結構,討論了晶界結構和電子密度對ZnO壓敏陶瓷電性能的影響,得到如下實
2、驗結果:
1.在ZnO中加入少量的TiO2,隨著ZnO陶瓷中TiO2含量的增加,樣品的電阻率降低,TiO2含量為1.8mo1%時,樣品的電阻率最低;而當TiO2含量高于1.8mo1%時,樣品的電阻率升高。當TiO2含量低于1.8mol%時,樣品的正電子平均壽命隨TiO2的增加而減小,這表明,樣品中的自由電子密度隨TiO2含量的增加而增加,從而導致樣品的電阻率降低;當TiO2含量高于1.8mol%時,隨TiO2含量的增加,樣
3、品的正電子平均壽命增加,即自由電子密度降低,樣品的電阻率升高。
2.在ZnO陶瓷中加入少量的CuO,樣品的電阻率顯著升高,當CuO含量為2.3mol%時,樣品的電阻率最高。正電子壽命測量結果顯示:用少量的CuO對ZnO摻雜,樣品的正電子平均壽命增加,即樣品的自由電子密度降低,導致樣品的電阻率升高。
3.比較金屬銅和金屬鋅的正電子湮沒輻射Dopple展寬譜的商譜發(fā)現(xiàn),正電子與金屬銅原子的3d電子的湮沒概率高于與
4、金屬鋅原子的3d電子的湮沒概率。
4.在ZnO中加入少量的CuO,當CuO含量低于2.0mol%時,樣品的商譜譜峰隨CuO含量的升高而升高;當CuO含量高于2.0mol%時,樣品的商譜譜峰隨CuO含量的升高而降低。
5.比較ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-MnO2、ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Co2O3和ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Cr2O3系壓敏陶瓷的正電子壽命譜參數(shù)及其電性能發(fā)現(xiàn)
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