低損熔接技術(shù)及在線熔接數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)研究.pdf

1、近年來(lái)，伴隨著光通信與光纖傳感產(chǎn)業(yè)的迅速發(fā)展，眾多新型光纖也隨之出現(xiàn)。新型光纖的使用，極大降低了光束在傳輸過(guò)程中的能量損失，提高了傳輸效率，為光通信領(lǐng)域帶來(lái)了新的生機(jī)與活力。但新型光纖在應(yīng)用過(guò)程中不可避免的需要與傳統(tǒng)單模光纖進(jìn)行熔接耦合，熔接損耗的大小直接決定了耦合質(zhì)量的好壞。因此，降低新型光纖與傳統(tǒng)普通單模光纖的熔接損耗仍是目前亟需解決的問(wèn)題。
　　本文針對(duì)如何在光纖熔接過(guò)程中降低熔接損耗開展研究，通過(guò)控制熔接參數(shù)，實(shí)現(xiàn)被熔接光

2、纖模場(chǎng)匹配，分析確定了不同熔接機(jī)的優(yōu)化參數(shù)。同時(shí)，針對(duì)大規(guī)模工業(yè)化光纖器件生產(chǎn)過(guò)程的質(zhì)量控制要點(diǎn)，結(jié)合光路熔接過(guò)程參數(shù)和產(chǎn)品測(cè)試數(shù)據(jù)的采集與記錄需求，開發(fā)了一種熔接機(jī)數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)。
　　本文主要研究的內(nèi)容如下:
　　一、調(diào)研了單模光纖低損熔接技術(shù)及不同模場(chǎng)直徑條件下低損熔接技術(shù)國(guó)內(nèi)外研究現(xiàn)狀。
　　二、介紹單模光纖熔接損耗相關(guān)理論與光纖熔接點(diǎn)損耗測(cè)量方法，分析影響光纖熔接損耗的主要因素，闡述了降低熔接損耗的方法。