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文檔簡介
1、本文以Xilinx公司的Virtex型FPGA芯片為實例,研究基于SRAM架構(gòu)的FPGA芯片的功能測試的測試?yán)碚摵蜏y試方法。在理論分析的基礎(chǔ)上,針對FPGA中的各種功能模塊和線網(wǎng)結(jié)構(gòu),建立故障模型,選擇測試算法,生成測試矢量,以及測試布局布線。然后,通過計算測試覆蓋率、測試周期,探討算法復(fù)雜度和硬件資源消耗,綜合評估測試效率和測試成本。主要的技術(shù)應(yīng)用包括:FPGA片上RAM的測試算法;路徑掃描和邊界掃描在FPGA邏輯功能測試中的應(yīng)用;B
2、IST技術(shù)在功能模塊測試和線網(wǎng)資源測試中的應(yīng)用;FPGA的測試圖形生成及覆蓋率計算。針對線網(wǎng)測試,提出了幾種獨特的測試結(jié)構(gòu)。例如,全長線和總線型長線相結(jié)合的內(nèi)建自測試結(jié)構(gòu),六倍線、單長線的測試布線結(jié)構(gòu)。本文也對這些結(jié)構(gòu)的測試矢量的生成算法進行了深入討論?;谶@些研究,尤其是在測試的布局布線結(jié)構(gòu)上進行創(chuàng)新,可以有效減少測試時間、硬件資源消耗并簡化測試程序的編制。對部分模塊的測試,本文結(jié)合生產(chǎn)實際說明了對應(yīng)測試技術(shù)的適用范圍。本項目研發(fā)的最
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