磁控濺射鍍制Al-,2-O-,3-薄膜及其應用.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、Al2O3薄膜因其光學性能優(yōu)良、機械強度高、透明性與絕緣性好、耐磨損、抗腐蝕、有較高的抗激光損傷閾值及化學性能穩(wěn)定等特點,近年來倍受國內(nèi)外關注,已經(jīng)廣泛地應用于光學、機械及微電子等領域。
   目前制備Al2O3薄膜的方法很多,常用的制備方法有:電子束物理氣相沉積、磁控濺射沉積、脈沖激光沉積、離子輔助沉積、化學氣相沉積、溶膠凝膠法等。然而濺射工藝參數(shù)的選取以及沉積的薄膜結構和性能是人們主要關注的課題。
   本文使用反應

2、磁控濺射的方法,利用氧氣和氬氣混合氣體在K9玻璃和Si基底上沉積Al2O3薄膜,根據(jù)國家標準中牢固度的測量要求:用2cm寬剝離強度不小于2.74N/cm膠帶牢牢粘在膜層表面上,垂直迅速拉起后,無脫膜現(xiàn)象,薄膜牢固性良好。同時研究和分析了各工藝參數(shù)對Al2O3薄膜沉積速率的影響。利用橢偏儀測試及分析了薄膜的光學性能。測試表明:氬氣在45sccm的情況下,氧氣的最小流量為18sccm,制備的Al2O3薄膜在可見光范圍內(nèi),折射率在1.62左右

3、,消光系數(shù)在0~1.0×10-3,沉積速率0.07nm/s。使用XRD分析薄膜晶體結構,發(fā)現(xiàn)本實驗方法所沉積的薄膜在未退火情況下為非晶態(tài),并分析不同工藝參數(shù)對薄膜結構的影響。利用SEM觀測Al2O3薄膜的表面形貌,觀察工藝參數(shù)的改變對薄膜形貌的影響。使用XPS對Al2O3薄膜成分進行分析,薄膜中Al:O比位于2:3附近,得到了較純的Al2O3薄膜。結果表明:Al2O3薄膜沉積速率、光學特性,以及抗激光損傷特性對氧氣濃度、靶功率,濺射氣壓

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