顆粒的腐蝕性及其對電接觸可靠性影響的研究.pdf

1、通過對觸點(diǎn)失效機(jī)理的大量分析得出，影響電接觸可靠性的因素主要有材料、加工制造工藝、環(huán)境污染等幾個方面。我國是一個污染比較嚴(yán)重的國家，由于觸點(diǎn)多暴露于環(huán)境之中，并且沒有任何保護(hù)，因此環(huán)境污染是造成電接觸故障的直接原因。
　　 電接觸科研室先前的研究結(jié)果表明：電接觸表面上含有大量腐蝕污染物且經(jīng)常伴隨有塵土顆粒存在。塵土中所含水溶性鹽的特性（溶解度，離子種類）是影響塵土腐蝕性的內(nèi)在因素，不同種類的離子對于電接觸材料的腐蝕性有所不同。另

2、外，在不同的溫度和濕度條件下，水溶性鹽的腐蝕性也會有所區(qū)別，因此有必要通過塵土中某些特定鹽顆粒對電接觸材料的腐蝕性實驗來研究顆粒的腐蝕性。水溶性鹽在一定溫濕度條件下形成的腐蝕物對塵土顆粒在接觸表面有“捕獲”作用，影響著塵土顆粒對電接觸材料的可靠性，因此研究塵土中可溶性鹽形成的腐蝕物的附著性也有著非常重要的意義，建立合適的塵土顆粒腐蝕性的實驗室模擬方法也是勢在必行的。
　　 本文的主要內(nèi)容有：選用無水硫酸鈉和氯化鈉顆粒對鍍金樣片、

3、銅樣片進(jìn)行一定溫濕度條件下的腐蝕實驗，來研究塵土顆粒中的兩種鹽成分的腐蝕特性；對顆粒腐蝕性的實驗室模擬方法進(jìn)行了初步研究；測試和分析了鹽顆粒的抗壓強(qiáng)度；最后對塵土顆粒在接觸表面的附著作用進(jìn)行了初步研究。
　　 硫酸鈉顆粒的抗壓強(qiáng)度遠(yuǎn)小于氯化鈉顆粒。硫酸鈉顆粒對銅樣片和鍍金樣片的腐蝕作用遠(yuǎn)低于氯化鈉顆粒。這是因為從酸堿度的角度，硫酸根離子的硬度大于氯離子，而且硫酸根離子較大，不具穿透性造成的。氯化鈉顆粒的腐蝕性要小于自然塵土顆粒的

4、腐蝕性。這是因為氯化鈉溶液為中性，而自然塵土顆粒溶液呈弱酸性。顆粒的腐蝕性是多因素的綜合作用，不僅要考慮鹽成分及其溶解度，而且要考慮顆粒的pH值。
　　 在塵土顆粒的實驗室加速模擬中，應(yīng)考慮加入氯化鈉顆粒，來表現(xiàn)塵土顆粒的腐蝕性。而將樣品浸入氯化鈉溶液的腐蝕程度要明顯于在樣品表面滴氯化鈉溶液。將氯化鈉溶液中加入少量的濃硫酸也不會加重溶液的腐蝕性。
　　 沉積在接觸表面上的二氧化硅顆粒只需幾次微動就可被推離接觸區(qū)域，而降低