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文檔簡介
1、柱面光柵作為一種計量光柵廣泛應(yīng)用于接觸式表面輪廓測量儀中。隨著超精密機(jī)械加工向亞微米、納米級精度發(fā)展,對接觸式表面輪廓測量儀提出了大量程和高分辨率要求。而全息柱面位相光柵作為該測量儀的標(biāo)準(zhǔn)器,決定著儀器的分辨率,柱面光柵的質(zhì)量技術(shù)參數(shù)及其精度對接觸式表面輪廓測量儀的測量準(zhǔn)確性及測量精度有著直接影響。
本文結(jié)合柱面光柵的應(yīng)用及光柵的相關(guān)衍射理論對柱面光柵全息制作過程中產(chǎn)生的誤差及柱面光柵參數(shù)誤差對測量精度的影響展開了研究和分析。
2、其主要研究內(nèi)容和取得的研究成果如下:
(1)分析了柱面光柵在表面形貌測量過程中的工作原理,建立了測量系統(tǒng)輸出信號與表征光柵質(zhì)量的技術(shù)參數(shù)之間的對應(yīng)關(guān)系。
(2)根據(jù)光柵的標(biāo)量衍射理論和嚴(yán)格耦合波理論分別對光柵的主要參數(shù)誤差如周期誤差、占空比誤差、槽深誤差、面型誤差進(jìn)行了分析,明確了柱面光柵的主要誤差源(周期誤差、占空比誤差)及相應(yīng)的工藝容差范圍,為高精度柱面光柵的工藝制作提供了依據(jù)。
(3)建立了柱面光柵的
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