一種面向芯片金線X射線檢測的數(shù)字圖像處理技術(shù).pdf

1、隨著檢測技術(shù)和數(shù)字圖像處理技術(shù)的快速發(fā)展，面向X射線檢測的數(shù)字圖像處理技術(shù)得到了越來越多的應(yīng)用，其中芯片金線X射線圖像檢測就是該技術(shù)的應(yīng)用之一。傳統(tǒng)的芯片金線檢測技術(shù)主要是依靠人眼觀察、手工測試、模具檢測以及光學(xué)檢測，受觀察者主觀影響很大，檢測時間較長，適用場合局限性很大，而基于數(shù)字圖像處理的芯片金線X射線檢測技術(shù)則是通過計算機對芯片X射線圖像進(jìn)行數(shù)字圖像處理，能有效地避免上述問題。
　　本文首先對芯片金線X射線的灰度圖像進(jìn)行必要

2、的預(yù)處理，使其金線主體突出、噪聲降低，提高了圖像質(zhì)量。然后分析比較了三種目前較為常見的閾值分割的方法，并通過實驗從中選取最佳方案作為本文的閾值分割方法。接著對閾值分割后的二值圖進(jìn)行降噪處理后，本文提出了一種基于圖像重構(gòu)的單一金線的提取方法，并著重介紹了該方法的原理及過程，再通過實驗驗證了該方法的可行性。最后使用曲線擬合得到單一完整的金線，并最終通過平面解析幾何計算獲得金線的最大水平偏移率。
　　本文針對芯片封裝行業(yè)的金線檢測提出了