SD卡與CF卡性能測(cè)試平臺(tái)的研究與設(shè)計(jì).pdf

1、隨著現(xiàn)代科技的進(jìn)步和生產(chǎn)的發(fā)展,SD(Secure Digital Memory Card)、CF(Compact Flash)卡的應(yīng)用越來(lái)越廣泛,SD、CF卡的性能好壞直接關(guān)系到生活和生產(chǎn)上正在進(jìn)行的工作的安全性和可靠性。所以SD卡的性能驗(yàn)證和測(cè)試顯得尤為重要。而傳統(tǒng)的測(cè)試和驗(yàn)證 SD卡的方法主要是通過(guò)用普通的低速讀卡器識(shí)別,再用相應(yīng)的讀寫(xiě)軟件對(duì)卡進(jìn)行讀寫(xiě)測(cè)試。雖然可以測(cè)試出一些基本的功能,但要進(jìn)行高速性能測(cè)試,卻需要有專門(mén)的讀卡器進(jìn)

2、行。對(duì)于高速測(cè)試和長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試一般讀卡器很難滿足,更不能滿足生產(chǎn)上的測(cè)試需求。針對(duì)以上對(duì)兩種卡的高速測(cè)試需要,本文研究了SD、CF卡高速性能測(cè)試平臺(tái)。
　　本文主要介紹了以PCI Express為接口的高速測(cè)試和驗(yàn)證的硬件結(jié)構(gòu),讓SD、CF兩種卡集成到同一個(gè)PCI Express板卡上,讓一個(gè)板卡同時(shí)進(jìn)行兩種卡的測(cè)試,對(duì)硬件電路的不同電壓模式、高頻特性和抗干擾特性進(jìn)行了研究和分析;對(duì) SD、CF兩種卡的讀寫(xiě)控制進(jìn)行了研究;還對(duì)PCI