基于CCD的射流盤尺寸及形位公差的檢測(cè)方法研究.pdf

1、射流盤是偏導(dǎo)射流伺服閥中的關(guān)鍵零件，其加工質(zhì)量對(duì)伺服閥的工作性能有著重要影響。因此需要對(duì)其相關(guān)尺寸和公差進(jìn)行精準(zhǔn)測(cè)量，提高射流盤檢測(cè)的準(zhǔn)確性和一致性，從而保證伺服閥的整機(jī)性能，為伺服機(jī)構(gòu)的高可靠性提供有效保障。
　　本文針對(duì)射流盤零件的尺寸及形位公差的高精度檢測(cè)需求，采用CCD技術(shù)和圖像處理技術(shù)對(duì)萬(wàn)能工具顯微鏡進(jìn)行技術(shù)改造。整個(gè)檢測(cè)系統(tǒng)由CCD圖像采集裝置、光柵測(cè)量系統(tǒng)、圖像測(cè)量軟件與萬(wàn)工顯四部分組成。通過(guò)對(duì)CCD圖像測(cè)量的實(shí)現(xiàn)方

2、法與技術(shù)原理的研究，設(shè)計(jì)了儀器技術(shù)改造方案，確定了各元件的技術(shù)參數(shù)，對(duì)圖像處理技術(shù)的流程與原理進(jìn)行研究，并進(jìn)行了硬件調(diào)試、精度校準(zhǔn)和功能驗(yàn)收等工作，實(shí)現(xiàn)了萬(wàn)工顯的CCD圖像測(cè)量功能。
　　此檢測(cè)系統(tǒng)已實(shí)現(xiàn)了圖像的采集、圖像的處理與計(jì)算以及檢測(cè)結(jié)果的輸出。對(duì)射流盤的檢測(cè)方式進(jìn)行了系統(tǒng)設(shè)計(jì)，對(duì)檢測(cè)系統(tǒng)的光學(xué)放大倍數(shù)、照明方式的選取和采點(diǎn)方式選取等進(jìn)行了分析討論。針對(duì)射流盤的基本尺寸與形位公差的檢測(cè)，給出了具體的檢測(cè)方法。
　　本