TFTR LCD Souce Driver芯片測試研究.pdf

1、本文主要以瀚瑞微電子有限公司的一款數(shù)字源驅動芯片的設計工作為基礎，利用現(xiàn)有的測試和可測試性設計技術，結合TFT-LCD驅動芯片的特點提出一套高效、實用、面向TFT-LCD驅動芯片制造的專用測試方案。該測試方案在有效地保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時又能降低后端測試成本，從而可以最大限度的提高產(chǎn)品競爭力。
　　文章從液晶面板的工作原理和驅動液晶面板原理開始著手，并從芯片的內(nèi)部結構闡述其驅動原理、多輸出通道、移位寄存器、Rail-to-Rail輸出

2、緩沖放大器、輸出電壓偏差較小和雙向移位能力等特性。還簡述了驅動芯片的設計流程和芯片的工藝和封裝測試流程，以及性能指標。一個可測試的芯片包含：可控性、可觀測性和可隔離性這三個要素及對各要素的解釋說明。
　　總結液晶驅動芯片常規(guī)測試方法，及數(shù)字芯片和數(shù)摸轉換電路的測試方法和測試技術。詳述了如何制定測試方案，指出測試所著重考量的測試成本、測試電路開發(fā)的難度、ATE設備能力等幾大因素。針對顯示驅動電路特殊的測試需求、驅動芯片引腳眾多、測試

3、指標難以選擇、測試成本壓力大等測試難點，以一款數(shù)字源驅動芯片為例，選取了合理的測試評價指標，并利用該指標體系對顯示驅動電路的測試進行評價，既可以保證測試質(zhì)量，又能提高測試效率。
　　介紹了業(yè)界著名公司Yokogawa的LCD驅動芯片測試系統(tǒng)ST6730的特點和如何高效的使用測試資源來優(yōu)化測試方法，也同時說明實驗測試平臺的互補作用和實驗室測試平臺的系統(tǒng)細節(jié)。重點闡述了CP測試程式的編寫、調(diào)試及測試數(shù)據(jù)的分析和實驗室測試方法的應用。將

4、多種方式的Relay控制，快速有效的驅動芯片引腳的輸出測試及高精度灰階測試等在測試實踐中做了詳細論述。其中，利用測試系統(tǒng)內(nèi)部有源負載電路進行參數(shù)比較與參數(shù)范圍判斷，利用數(shù)字采樣器進行精確測量，用快速比較法測試替代了傳統(tǒng)的DC測試法。利用機臺的CUNIT單元自帶獨立CPU可并行運算的特點，使數(shù)據(jù)處理的時間達到納秒級別，大大提高測試效率。
　　本文所提到的一系列測試方案已經(jīng)被國內(nèi)的相關設計公司廣泛應用并認可，并在一款數(shù)字源驅動芯片項目