TFT-LCD源驅(qū)動(dòng)芯片測(cè)試技術(shù)研究.pdf

1、本文主要以瀚瑞微電子有限公司的一款模擬源驅(qū)動(dòng)芯片PIX82720TC設(shè)計(jì)工作為基礎(chǔ)，利用現(xiàn)有的測(cè)試和可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)，結(jié)合TFT(Thin Film Transistor)-LCD驅(qū)動(dòng)芯片的特點(diǎn)提出一套高效、實(shí)用、面向TFT-LCD驅(qū)動(dòng)芯片制造的專(zhuān)用測(cè)試方案。該測(cè)試方案在有效地保證產(chǎn)品質(zhì)量的同時(shí)又能降低后端測(cè)試成本，從而可以最大限度的提高產(chǎn)品競(jìng)爭(zhēng)力。
　　 文章從液晶物理特性、發(fā)光原理和面板結(jié)構(gòu)等方面說(shuō)明液晶的顯示原理。從芯片的

2、內(nèi)部結(jié)構(gòu)闡述其驅(qū)動(dòng)原理，及其多輸出通道、雙采樣-保持電路、輸出電壓偏差較小和雙向移位能力等特性。還簡(jiǎn)述了驅(qū)動(dòng)芯片的設(shè)計(jì)流程和芯片的工藝和封裝測(cè)試流程，以及性能指標(biāo)。一個(gè)可測(cè)試的芯片包含：可控性、可觀測(cè)性和可隔離性這三個(gè)要素及對(duì)各要素的解釋說(shuō)明。
　　 總結(jié)液晶驅(qū)動(dòng)芯片常規(guī)測(cè)試方法，及模擬IC和DAC電路的測(cè)試方法和測(cè)試技術(shù)。詳述了如何制定測(cè)試方案，指出測(cè)試所著重考量的測(cè)試成本、測(cè)試電路開(kāi)發(fā)的難度、ATE設(shè)備能力等幾大因素。針對(duì)顯

3、示驅(qū)動(dòng)電路特殊的測(cè)試需求和驅(qū)動(dòng)芯片引腳眾多、測(cè)試指標(biāo)難以選擇、測(cè)試成本壓力大等測(cè)試難點(diǎn)，以PIX82720TC為例，選取了合理的測(cè)試評(píng)價(jià)指標(biāo)，并利用該指標(biāo)體系對(duì)顯示驅(qū)動(dòng)電路的測(cè)試進(jìn)行評(píng)價(jià)，既可以保證測(cè)試質(zhì)量，又能提高測(cè)試效率。
　　 介紹了業(yè)界著名公司Yokogawa的LCD測(cè)試系統(tǒng)ST6730的特點(diǎn)和如何高效的使用測(cè)試資源來(lái)優(yōu)化測(cè)試方法。重點(diǎn)闡述了測(cè)試程式的編寫(xiě)與調(diào)試及測(cè)試數(shù)據(jù)的分析。將多方式的Relay控制，快速有效的LCD

4、 pin的輸出測(cè)試及高精度灰階測(cè)試等在測(cè)試實(shí)踐中做了詳細(xì)論述。其中，活用Active Load (內(nèi)部有源負(fù)載電路)進(jìn)行參數(shù)比較與參數(shù)范圍判斷，利用Digitizer (數(shù)字采樣器)進(jìn)行精確測(cè)量，用快速比較法測(cè)試替代了傳統(tǒng)的DC測(cè)試法。利用機(jī)臺(tái)的CUNIT單元自帶獨(dú)立CPU可并行運(yùn)算的特點(diǎn)，使數(shù)據(jù)處理的時(shí)間達(dá)到納秒級(jí)別，大大提高測(cè)試效率。
　　 本文所提到的一系列測(cè)試方案己經(jīng)被國(guó)內(nèi)的相關(guān)設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用并認(rèn)可，并在PIX8272