TFT-LCD類顯示驅(qū)動(dòng)芯片的失效分析及良率提升.pdf

1、以及一些便攜式產(chǎn)品，比如筆記本電腦，移動(dòng)電話，數(shù)碼相機(jī)等。為了使顯示器使用時(shí)間更長，負(fù)載能力更大，就需要驅(qū)動(dòng)電路具有低功耗，高速驅(qū)動(dòng)大負(fù)載的特點(diǎn)，因此液晶驅(qū)動(dòng)IC的技術(shù)和工藝都有特殊的要求。隨著全球液晶市場(chǎng)規(guī)模的持續(xù)擴(kuò)大，LCD控制/驅(qū)動(dòng)IC芯片的需求量日益增加，作為大批量生產(chǎn)的晶圓代工廠，除了控制生產(chǎn)線的工藝質(zhì)量以外，研究高效快速的失效分析手法就成為了負(fù)責(zé)產(chǎn)品良率的產(chǎn)品工程師必須研究的重要課題之一，因?yàn)樗鼘?huì)在很大程度上影響到產(chǎn)品良率

2、的快速提升和長期穩(wěn)定，最終影響公司的盈收。為此，本論文以“如何有效地通過各種失效分析的方法快速提升及保持TFT類LCD驅(qū)動(dòng)芯片的良率”為題展開研究，介紹了液晶顯示技術(shù)的發(fā)展及TFT LCD Driver IC的市場(chǎng)前景，主要通過微光顯微鏡EMMI和測(cè)試機(jī)臺(tái)MOSAID的電性實(shí)驗(yàn)，加以失效數(shù)據(jù)分析以及物性失效分析，研究在試產(chǎn)和量產(chǎn)階段快速和持續(xù)提升產(chǎn)品良率的失效分析手法，總結(jié)了類似產(chǎn)品的一般失效分析的流程和方法。由于時(shí)間有限，很多工作還有