CIS失效分析方法及良率的提升.pdf

1、隨著集成電路制造業(yè)工藝技術(shù)的成熟發(fā)展和集成電路設(shè)計(jì)水準(zhǔn)的不斷提升,CMOS圖像傳感器憑借其成本低、功耗低、集成度高、體積小、工藝不復(fù)雜且開(kāi)發(fā)周期短等等優(yōu)勢(shì),在諸多領(lǐng)域中得到了及其廣泛的應(yīng)用,特別是數(shù)碼產(chǎn)品類(lèi)市場(chǎng)如數(shù)碼手機(jī)、數(shù)碼照相機(jī)、數(shù)碼攝像機(jī)等圖像傳感器應(yīng)用方面,當(dāng)前市場(chǎng)前景廣泛,因此對(duì)CMOS圖像傳感器的研發(fā)有著非常高的市場(chǎng)價(jià)值。
　　本文首先介紹了CMOS圖像傳感器的發(fā)展歷程和研究現(xiàn)狀。隨后敘述了CMOS圖像傳感器的分類(lèi)、結(jié)

2、構(gòu)及工作原理,為了更好的剖析CMOS圖像傳感器,著重說(shuō)明了成像原理和圖像信號(hào)的讀取和處理過(guò)程,以及CMOS圖像傳感器的重要性能參數(shù),以及在芯片測(cè)試(CP:ChipProbe)、終端測(cè)試(FT:FinalTest,)、應(yīng)用測(cè)試(AE:ApplicationEngineeringTest)中的重要測(cè)試項(xiàng)加以剖析和分析。然后把實(shí)際的CMOS圖像傳感器的集成電路的制造中,利用代工廠的三大主要分析手段和結(jié)合相關(guān)CIS相關(guān)的問(wèn)題去剖析和改善,最后把