基于遺傳算法與模擬退火的VLSI布局算法.pdf

1、隨著超大規(guī)模集成電路(VLSI)復(fù)雜度的急劇增加，人們對(duì)其中的模塊布局問題提出了更高的要求。但是人工的進(jìn)行物理設(shè)計(jì)已經(jīng)遠(yuǎn)遠(yuǎn)的不能滿足該問題的要求，因此自動(dòng)布局方法在計(jì)算機(jī)輔助設(shè)計(jì)(CAD)中的地位顯的更加重要。VLSI模塊布局問題是一個(gè)NP完全問題，一般采用啟發(fā)式算法解決。目前，隨著對(duì)超大規(guī)模集成電路布局算法更加廣泛和深入的研究，人們提出了許多較為有效的布局算法，如遺傳算法、模擬退火算法等，但是它們的布局質(zhì)量還不太令人滿意，尤其是在VL

2、SI模塊布局問題中存在邊界約束、預(yù)置模塊或軟模塊等限制條件的時(shí)候，布局結(jié)果的“面積”或者“長寬比”較差。模塊布局問題仍然是VLSI設(shè)計(jì)中最具挑戰(zhàn)性的問題之一。
　　 本文基于傳統(tǒng)的模擬退火和遺傳算法，提出了一種新的VLSI模塊布局算法。新算法采用序列對(duì)(SP)編碼方式，該編碼方式已被證明可以成功的應(yīng)用在解決VLSI模塊布局問題的算法中。為了驗(yàn)證新算法的有效性，程序采用MCNC的標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)集和兩個(gè)隨機(jī)生成的模塊集合作為實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)。經(jīng)過