溫度屬性對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備可靠性影響的研究.pdf

1、對(duì)數(shù)據(jù)中心服務(wù)器的損壞情況進(jìn)行跟蹤統(tǒng)計(jì)發(fā)現(xiàn):溫度在很大程度上影響硬盤的壽命。針對(duì)數(shù)據(jù)中心能耗較大的問(wèn)題,常用的節(jié)能策略是盡可能將負(fù)載集中到少數(shù)的硬盤,讓更多的硬盤處于休眠狀態(tài),減少高速旋轉(zhuǎn)引起的能耗。但是這種策略會(huì)導(dǎo)致高負(fù)載硬盤始終處于高溫工作狀態(tài),引起硬盤故障率急劇上升。因此,研究溫度屬性對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備可靠性的影響具有一定的研究意義。
　　針對(duì)硬盤的可靠性問(wèn)題,提出一種通過(guò)對(duì)存儲(chǔ)設(shè)備溫度進(jìn)行控制來(lái)解決存儲(chǔ)設(shè)備可靠性問(wèn)題的方法。詳細(xì)分

2、析了對(duì)存儲(chǔ)系統(tǒng)溫度進(jìn)行控制所需要實(shí)現(xiàn)的具體功能和技術(shù)要點(diǎn)。針對(duì)存儲(chǔ)系統(tǒng)局部過(guò)熱的問(wèn)題,引入溫度預(yù)測(cè)和反饋機(jī)制,有效提高存儲(chǔ)設(shè)備的可靠性。同時(shí)還使用了阿列紐斯模型來(lái)計(jì)算當(dāng)前預(yù)測(cè)溫度下硬盤故障率加速因子和預(yù)測(cè)后采取關(guān)盤措施產(chǎn)生的故障率加速因子,根據(jù)這兩個(gè)故障率加速因子的大小來(lái)確定關(guān)閉硬盤策略,從而達(dá)到溫度限制和節(jié)能的效果。對(duì)于系統(tǒng)中的寫操作,使用寫離線處理技術(shù),先將寫操作寫入緩存,再在合適的時(shí)候?qū)懖僮鞲碌剿械挠脖P,從而有效的減少了寫請(qǐng)