多參數(shù)存儲測試技術(shù)研究.pdf

1、多參數(shù)存儲測試是在存儲測試技術(shù)的基礎(chǔ)上利用多參數(shù)傳感器實(shí)現(xiàn)的對多個物理量同時進(jìn)行存儲測試的一種現(xiàn)代的測試技術(shù),它不僅有存儲測試技術(shù)的特點(diǎn)同時還可改進(jìn)以往存儲測試技術(shù)中被測物理量個數(shù)較少的局限性。將此種技術(shù)應(yīng)用在運(yùn)輸包裝過程中對包裝件的各項(xiàng)運(yùn)動參數(shù)進(jìn)行測試,以減少或者避免包裝件在運(yùn)輸中的損壞,有利于改善運(yùn)輸包裝過程的可靠性、減少運(yùn)輸包裝中因過度包裝帶來的資源浪費(fèi)等一系列問題。采用MTx傳感器采集三維加速度、三維轉(zhuǎn)角率、三維地磁場、溫度等多

2、參數(shù)數(shù)據(jù),并結(jié)合硬件電路對采集到的數(shù)據(jù)進(jìn)行傳遞和存儲。課題的重點(diǎn)在MTx(motion tracker)傳感器的驅(qū)動和設(shè)置以及相應(yīng)硬件電路的設(shè)計(jì)。本課題的主要研究內(nèi)容：1、分析存儲測試系統(tǒng)的實(shí)際應(yīng)用,學(xué)習(xí)相關(guān)理論。通過分析不同實(shí)際應(yīng)用總結(jié)并提出存儲該測技術(shù)在運(yùn)輸包裝過程中的必要性和實(shí)際意義。2、分析存儲測試系統(tǒng)的總體結(jié)構(gòu)和整體框架。針對提出的要求進(jìn)行總體結(jié)構(gòu)的考慮,并繪制相應(yīng)的系統(tǒng)框圖。3、分析存儲測試系統(tǒng)所需要的硬件設(shè)備和硬件電路實(shí)現(xiàn)

3、形式,并研制多參數(shù)存儲測試系統(tǒng)的硬件儀器。該儀器能夠采集三維加速度、三維轉(zhuǎn)角率、三維地磁場、溫度等多參數(shù)數(shù)據(jù),并將數(shù)據(jù)以所需要的形式發(fā)送給存儲設(shè)備進(jìn)行存儲。待整個運(yùn)動事件結(jié)束后分析所存儲的多參數(shù)數(shù)據(jù)。MTx傳感器的驅(qū)動電路、采樣頻率和系統(tǒng)的穩(wěn)定性是研制的重點(diǎn)。4、開發(fā)MTx傳感器在單片機(jī)下的驅(qū)動、設(shè)置及串口通訊的程序。將系統(tǒng)運(yùn)行的主程序燒寫到單片機(jī)中,使用keilμVision2開發(fā)主程序。5、實(shí)驗(yàn)驗(yàn)證。利用人為的跌落、搖擺、靜置等行為