射頻電路多參數(shù)健康評估技術(shù)研究.pdf

1、隨著電子技術(shù)的飛速發(fā)展,電子系統(tǒng)已廣泛的應(yīng)用在生產(chǎn)生活及航空航天的各個方面，其復(fù)雜度也不斷增加，電子系統(tǒng)的關(guān)鍵模塊或元件故障而引起的災(zāi)難性事故也是時有發(fā)生。因此，電子系統(tǒng)的健康程度評估也愈發(fā)的受到重視。目前，對于電子系統(tǒng)健康度尚無一種定量的評估方法，特別是對于多種參數(shù)監(jiān)測下的電子系統(tǒng)綜合健康度缺少有效的評估方法。針對該問題，論文主要從三個方面開展研究工作：
　　1、針對加速退化實(shí)驗(yàn)耗時時間長、成本高的問題，論文提出了一種基于EDA

2、仿真技術(shù)的射頻電路性能退化仿真方法，結(jié)合故障模式影響分析，給出了影響射頻電路健康狀態(tài)的多個參數(shù)，利用仿真方法得到典型射頻電路一系列關(guān)鍵參數(shù)的性能退化數(shù)據(jù)，最終確定使用S參數(shù)對射頻電路的健康度進(jìn)行評估。
　　2、針對射頻電路穩(wěn)定性參數(shù)K變化微弱、難以有效監(jiān)測早期性能退化的問題，論文采用一種HMM模型對射頻電路的退化趨勢進(jìn)行監(jiān)測，通過KL距離將微弱的性能退化參數(shù)轉(zhuǎn)化為變化較為明顯的退化趨勢，從而增強(qiáng)了系統(tǒng)的退化趨勢分析能力。
　

3、　3、提出了一種性能退化軌跡曲線相似度的射頻電路健康評估及預(yù)測方法，選擇一種符合度較高的模型對性能退化數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合，并使用擬合得到的性能退化軌跡曲線對射頻電路的壽命進(jìn)行預(yù)測。通過對射頻電路的性能退化數(shù)據(jù)進(jìn)行分析，明確了該用何種模型對性能退化數(shù)據(jù)進(jìn)行擬合并給出了評價擬合模型的評價標(biāo)準(zhǔn)。同時，給出了性能退化軌跡與原始數(shù)據(jù)的退化軌跡之間的相似度的計算公式，并將其應(yīng)用在了射頻電路的健康評估及預(yù)測當(dāng)中。
　　經(jīng)過實(shí)例驗(yàn)證，該方法能夠?qū)ι漕l電