2023年全國碩士研究生考試考研英語一試題真題(含答案詳解+作文范文)_第1頁
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文檔簡介

1、門控分幅相機是激光等離子體、慣性約束聚變(ICF--Inertial Confinement Fusion))等高能密度物理實驗的重要檢測設(shè)備之一。分幅相機尚有許多急待解決的問題,其中增益的不均勻性是比較嚴重的問題之一,會對成像結(jié)果帶來一定的失真。因此研究分幅相機增益特性對高能密度物理實驗的X射線成像診斷具有重要的意義。
   第二章,論文在分幅相機的結(jié)構(gòu)及工作原理的基礎(chǔ)上,研究了分幅相機的增益特性,建立了微通道板(MCP--M

2、icro Channel Plate)增益模型,分析了分幅相機參數(shù)對增益的影響,結(jié)果顯示工作電壓和微通道加速電場是影響增益的主要因素。
   第三章,作者采用了CST(Computer Simulation Technology)電磁工作室和微波工作室軟件,模擬了微帶MCP的靜態(tài)電場強度分布和高斯脈沖電壓的傳輸特性,分析了相機靜態(tài)增益不均勻性和動態(tài)增益不均勻性。模擬結(jié)果顯示,工作在靜態(tài)時,微帶邊緣增益輸出相對較大,具有較大的增益

3、不一致性;相機工作在動態(tài)時,增益沿微帶線與位移成指數(shù)關(guān)系衰減,衰減系數(shù)與介質(zhì)的電導(dǎo)率成正比例關(guān)系。
   第四章,搭建實驗平臺,測量了分幅相機的靜態(tài)增益特性、動態(tài)增益特性和曝光時間。結(jié)果顯示靜態(tài)增益分布與CST模擬結(jié)果吻合,微帶邊緣增益相對較大。動態(tài)增益分布也與CST模擬結(jié)果一致,增益沿微帶線與位移成指數(shù)關(guān)系衰減,但在微帶末端突然升高。增益的衰減是由脈沖電壓衰減引起的,微帶末端增益升高是由微帶末端電壓反射引起的。對數(shù)據(jù)擬合分析后

4、,結(jié)果顯示增益衰減系數(shù)為0.3Np/cm,電壓衰減系數(shù)為0.043Np/cm,電壓末端反射系數(shù)為10%,相機的曝光時間為100ps±10%。
   第五章,論文對分幅相機增益均勻性進行優(yōu)化設(shè)計研究。作者采用三種方法對增益不一致性進行修正補償,分別為靜態(tài)電壓補償法、末端電壓反射法和漸變微帶補償法。對三種方法進行定量分析,建立優(yōu)化物理模型,模擬三種方法對增益均勻性的優(yōu)化效果。結(jié)果顯示三種方法各有優(yōu)缺點,其中靜態(tài)電壓補償法和漸變微帶補

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