電接觸測(cè)試中的顯微觀測(cè)系統(tǒng)研究.pdf

1、電接觸故障在電子設(shè)備中大量存在，其中大部分都與大氣中的塵土顆粒有關(guān)。對(duì)失效通訊終端產(chǎn)品中觸點(diǎn)的初步研究發(fā)現(xiàn)多于65％的接觸表面是被塵土污染，近50％的接觸表面在接觸區(qū)形成污染物聚集區(qū)。大氣中懸浮的塵土顆粒隨著連接器的不斷插拔進(jìn)入接觸區(qū)域，進(jìn)而產(chǎn)生電接觸的可靠性隱患。所以，研究塵土顆粒對(duì)電接觸可靠性的影響具有很重要的現(xiàn)實(shí)意義。
　　 而要研究在電接觸測(cè)試中塵土顆粒的影響，就必須有相應(yīng)的設(shè)備儀器進(jìn)行實(shí)驗(yàn)和觀測(cè)。本課題主要研究設(shè)計(jì)了一

2、套視頻顯微實(shí)時(shí)觀測(cè)系統(tǒng)，方便在電接觸測(cè)試實(shí)驗(yàn)中（如研究塵土對(duì)電器元件可靠性影響）觀測(cè)微小顆粒和接觸區(qū)域，該系統(tǒng)將傳統(tǒng)的光學(xué)顯微技術(shù)與機(jī)械、電子以及計(jì)算機(jī)等技術(shù)相結(jié)合。提出了整個(gè)系統(tǒng)的工作原理及結(jié)構(gòu)組成，詳細(xì)介紹了系統(tǒng)各部分的設(shè)計(jì)方案及實(shí)現(xiàn)方法。
　　 本論文重點(diǎn)介紹了視頻顯微實(shí)時(shí)觀測(cè)系統(tǒng)的光學(xué)部分、圖像采集和傳輸部分、機(jī)械部分以及照明部分。光學(xué)部分是整個(gè)系統(tǒng)的基礎(chǔ)，光學(xué)圖像的質(zhì)量直接影響到整體性能。在介紹了顯微鏡的規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)的基礎(chǔ)

3、上，設(shè)計(jì)并確定了一條應(yīng)用于CCD攝取顯微圖像的光路。并根據(jù)設(shè)計(jì)要求，對(duì)光路的整體結(jié)構(gòu)和各個(gè)參數(shù)進(jìn)行了詳細(xì)的討論計(jì)算。圖像采集的主要過(guò)程是先把將顯微鏡頭捕獲的光學(xué)圖像投射到CCD攝像機(jī)上，然后把模擬視頻信號(hào)轉(zhuǎn)換為數(shù)字視頻信號(hào)，最后采用USB傳輸和計(jì)算機(jī)處理相結(jié)合的圖像數(shù)據(jù)傳輸、處理方式。以上各個(gè)部分是通過(guò)機(jī)械結(jié)構(gòu)連接起來(lái)，機(jī)械部分主要涉及到了基座、立柱、支架和減振裝置等零部件的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)和選型。照明部分可以更好的幫助系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)圖像采集，提高圖