塵土對電接觸影響的測試方法研究.pdf

1、電接觸故障在電子設(shè)備中大量存在，其中大部分都與大氣中的塵土顆粒有關(guān)。對失效通訊終端產(chǎn)品中觸點的初步研究發(fā)現(xiàn)多于65％的接觸表面被塵土污染，近50％的接觸表面在接觸區(qū)形成污染物聚集區(qū)。大氣中懸浮的塵土顆粒隨著連接器的不斷插拔進入接觸區(qū)域，進而產(chǎn)生電接觸的可靠性隱患。所以研究塵土顆粒對電接觸可靠性的影響具有很重要的現(xiàn)實意義。 通過測量有顆粒存在時接觸對之間的電阻值，研究塵土對接觸電阻的影響。這需要首先解決塵土顆粒的觀察定位問題，即如

2、何準確將觸頭移動到目標塵土顆粒上。本論文針對塵土顆粒和接觸區(qū)尺寸小的特點，選定了一套微型顯微鏡觀察系統(tǒng)，有效解決了塵土顆粒的觀察和定位問題。通過理論計算得出該系統(tǒng)在實際使用中能達到放大率120倍、分辨率6μm、景深23.2μm、視場角10度。 本論文進而研究了在精密再定位接觸電阻測試儀上借助微型顯微鏡系統(tǒng)進行塵土顆粒定位的過程，并在此基礎(chǔ)上總結(jié)了一套研究塵土顆粒對靜態(tài)接觸電阻影響的測試方法和詳細步驟，并對其中的塵土顆粒選用原則、

3、揚塵方法等方面進行了深入探討，為不同尺寸顆粒對靜態(tài)接觸電阻影響課題的深入研究奠定基礎(chǔ)。 研究塵土顆粒對動態(tài)接觸電阻影響時存在一個危險尺寸，處于危險尺寸范圍內(nèi)的顆粒即使密度不大也可能對接觸可靠性造成影響。本論文討論了如何利用微動模擬設(shè)備和微型顯微鏡系統(tǒng)進行試驗，驗證各種不同接觸材料的危險尺寸，給出了試驗方法和流程，并進行了必要的試驗驗證。 微型顯微鏡系統(tǒng)使接觸對周圍微小塵土顆粒分布的實時觀測成為可能。無論將其運用在靜態(tài)接觸