低溫介電溫譜測試系統(tǒng)的研發(fā)與應(yīng)用.pdf

1、電子材料在當今飛速發(fā)展的高新技術(shù)領(lǐng)域發(fā)揮著越來越重要的作用，應(yīng)用領(lǐng)域不斷拓展。這就對電子材料的性能和使用范圍提出了更高的要求，相應(yīng)的對電子材料的測試手段和測試設(shè)備也提出了更高的要求。由于多數(shù)國外設(shè)備昂貴，而國內(nèi)設(shè)備精度和穩(wěn)定性不足，多為簡易搭制，集成性與多功能性較差。 本著開發(fā)高精度和良好穩(wěn)定性的設(shè)計理念，同時為了滿足Bi基焦綠石介電材料的研究需要以及其它高?？蒲袉挝缓推髽I(yè)的在電介質(zhì)陶瓷方面研究手段的不足，設(shè)計研發(fā)了電介質(zhì)材料電

2、性能測試系統(tǒng)-一低溫介電溫度特性測試系統(tǒng)。系統(tǒng)在功能實現(xiàn)、性能指標和拓展性等方面均達到了較高水平，實現(xiàn)了系統(tǒng)集成化，達到了精度高、安全和經(jīng)濟等目標。本文主要研究結(jié)果如下： （1）設(shè)計并加工完成了基于精密LCR數(shù)字電橋的低溫介電溫度特性測試系統(tǒng)。設(shè)計包括：升降溫、保溫系統(tǒng)，線性升溫（1～10℃/min可選）系統(tǒng)；四工位樣品夾持系統(tǒng)和與之對應(yīng)的多路模擬開關(guān)系統(tǒng)；編寫了友好的人機交互界面；實現(xiàn)了樣品在-150℃～220℃溫度范圍內(nèi)，不

3、同頻率下（LCR可測頻率，每次可選1～10個頻點）的溫度特性測試，實現(xiàn)了數(shù)據(jù)的采集、存儲的自動化以及測試過程的實時顯示。 （2）采用固相反應(yīng)燒結(jié)法制備了新型四元系Bi基焦綠石（Bi1.5Zn0.5-xSrx）（Sn1.5Nb0.5）O7（BZSSN）（x=0～0.5），利用開發(fā)完成的低溫介電溫譜測試系統(tǒng)研究了系列樣品在低溫下的介電性能。相結(jié)構(gòu)分析表明BZSSN系列樣品均形成了立方焦綠石單相結(jié)構(gòu)。樣品的介電常數(shù)、介電損耗隨著Sr2