介電譜測試系統(tǒng)的多功能開發(fā)與性能優(yōu)化研究.pdf_第1頁
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文檔簡介

1、隨著電子材料與元器件研究開發(fā)的逐步深入和功能應(yīng)用的不斷拓展,對其電性能表征的測試設(shè)備的多樣性和高度集成性等也相應(yīng)地提出越來越高的要求。本文以高集成、高智能、高人性化的設(shè)計理念為出發(fā)點,設(shè)計開發(fā)了多功能的介電譜測試系統(tǒng)。其主要研究內(nèi)容如下:
   (1)從硬件、軟件以及軟硬件聯(lián)接等方面對介電譜測試系統(tǒng)進行了優(yōu)化研究,拓展了系統(tǒng)的測試功能,提高了系統(tǒng)的軟件和硬件兼容性,改進了系統(tǒng)的智能化測試,優(yōu)化了系統(tǒng)的人機交互界面。通過對該設(shè)備的

2、集成性和智能型等方面的優(yōu)化提升,推動其市場化與工業(yè)化產(chǎn)品的需求。
   (2)基于測試過程中氣氛環(huán)境會直接影響材料的缺陷結(jié)構(gòu)和電學(xué)性能,設(shè)計了一套可用于氣氛環(huán)境下介電溫度特性的測試系統(tǒng),并將氣氛環(huán)境引入到測試過程中,從而實現(xiàn)了不同氣氛環(huán)境下電子材料介電性能參數(shù)的測試。測試結(jié)果表明,電子材料的電學(xué)性能參數(shù)受到測試氣氛的影響和作用,為研究材料內(nèi)部復(fù)雜的缺陷結(jié)構(gòu)和極化機制提供了一種直接有效的測試手段。
   (3)利用VB程序

3、語言設(shè)計開發(fā)了一套能夠反映電子材料性能與頻率關(guān)系的變溫頻譜測試程序,其特色之處為:升溫過程的智能控制,多試樣的同時測量,即時動態(tài)的測試?yán)L圖以及數(shù)據(jù)文件的優(yōu)化處理等。該測試功能的開發(fā)為電子材料的頻譜研究提供了新途徑-探討在溫度場作用下的頻率變化對其電參數(shù)的影響機制。
   再開發(fā)和優(yōu)化設(shè)計后的介電譜測試系統(tǒng),不僅功能得到拓展、系統(tǒng)得到完善、外觀得到美化,其測試的穩(wěn)定性和準(zhǔn)確性更是得到了大幅提升。目前,該設(shè)備可成功完成介電溫譜的自動

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